109 年 國立成功大學光電科學與工程研究所乙組《電子學》

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第 1 題10 分

Transistor in Fig. 1 has VBE(on)=0.7V_{BE(on)} = 0.7 and β=100\beta = 100. D1 is a Schottky diode with turn on voltage of 0.30.3 V. D2 is a Zener diode with VZ=5.4V_Z = 5.4 V. Please find the output voltage (VoutV_{out}) when input voltage (VinV_{in}) is 6 V.

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核心觀念

本題考查 BJT 開關電路、Schottky 箝位二極體與 Zener 穩壓二極體的工作判斷。

  • BJT 導通時,VB≈VBE=0.7 VV_B \approx V_{BE}=0.7\text{ V}。
  • 若工作於主動區,則 IC=βIBI_C=\beta I_B。
  • D1 為 Schottky 二極體,導通時約有 0.3 V0.3\text{ V} 壓降,會限制 BJT 集極電壓不能低於基極太多。
  • D2 在反向崩潰時,才會將 VoutV_{out} 箝位於 VZ=5.4 VV_Z=5.4\text{ V}。

解題方法

先假設 Q1 工作於主動區。基極電流為

IB=Vin−VBE100 kΩ=6−0.7100 kΩ=53 μAI_B=\frac{V_{in}-V_{BE}}{100\text{ k}\Omega} =\frac{6-0.7}{100\text{ k}\Omega} =53\ \mu\text{A}

因此主動區所需的集極電流為

IC=βIB=100(53 μA)=5.3 mAI_C=\beta I_B =100(53\ \mu\text{A}) =5.3\text{ mA}

若 Q1 要吸收 5.3 mA5.3\text{ mA},由 2 kΩ2\text{ k}\Omega 電阻提供的電流將使集極電壓降為

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第 2 題30 分

Consider the BiCMOS amplifier shown in Fig. 2. The BJT has ∣VBE(on)∣=0.7|V_{BE(on)}| = 0.7 V, β=200\beta = 200, Cμ=0.8C_\mu = 0.8 pF, and fT=600f_T = 600 MHz. The NMOS transistor has Vt=1V_t = 1 V, Kn′W/L=2K_n'W/L = 2 mA/V2^2, and Cgs=Cgd=1C_{gs} = C_{gd} = 1 pF.

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(a) Consider the dc bias circuit. Neglect the base current of Q1. Evaluate the DC bias currents in Q1 and Q2. Evaluate the small signal parameters of Q1 and Q2 at their bias points.

(b) Consider the circuit at mid-band frequencies. Then use Miller theorem to determine the amplifier input resistance RinR_{in}. Finally, determine the overall voltage gain Vo/VinV_o/V_{in}.

(c) Consider the circuit at low frequencies. Determine the frequency of poles due to C1C_1 and C2C_2, and hence estimate the lower 3-dB frequency, fLf_L. Second, consider the circuit at high frequencies. Hence estimate the lower 3-dB frequency, fLf_L, using Miller's theorem to replace RGR_G with a resistance at the input. Use open circuit time constants to estimate fHf_H.

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核心觀念

本題結合 BiCMOS 放大器的:

  • MOSFET 與 BJT 的直流偏壓
  • 小訊號參數 gmg_m、rπr_\pi
  • 中頻電壓增益
  • Miller 定理
  • 耦合電容造成的低頻極點
  • 開路時間常數法估計高頻截止頻率

由 Fig. 2 可知:Q1Q_1 為 NMOS,源極接至 Q2Q_2 基極;Q2Q_2 為共射極 BJT。RG=10 MΩR_G=10\ \text{M}\Omega 由 Q1Q_1 閘極接至輸出端。

以下採用 VT=25 mVV_T=25\ \text{mV},忽略 MOSFET 與 BJT 的 ror_o。


(a) 直流偏壓與小訊號參數

直流時 C1C_1、C2C_2 開路,且 MOSFET 閘極沒有直流電流。因此 RGR_G 中沒有直流電流,故 Q1Q_1 的閘極電壓等於汲極電壓:

VG=VDV_G=V_D

因為 Q1Q_1 源極直接接到 Q2Q_2 基極:

VS=VBE=0.7 VV_S=V_{BE}=0.7\ \text{V}

源極電阻電流為

IR=0.76.8 kΩ=102.9 μAI_R=\frac{0.7}{6.8\ \text{k}\Omega} =102.9\ \mu\text{A}

令 IB2I_{B2} 為 Q2Q_2 基極電流,則

ID1=IR+IB2I_{D1}=I_R+I_{B2}

又因為

IC2=βIB2=200IB2I_{C2}=\beta I_{B2}=200I_{B2}

輸出節點的 3 kΩ3\ \text{k}\Omega 電阻電流為

5−VD3 kΩ=ID1+IC2\frac{5-V_D}{3\ \text{k}\Omega} =I_{D1}+I_{C2}

NMOS 的汲極電流為

ID1=12Kn′WL(VGS−Vt)2=(VGS−1)2 mAI_{D1} =\frac{1}{2}K_n'\frac WL(V_{GS}-V_t)^2 =(V_{GS}-1)^2\ \text{mA}

其中

VGS=VD−0.7V_{GS}=V_D-0.7

因此

ID1=(VD−1.7)2 mAI_{D1}=(V_D-1.7)^2\ \text{mA}

聯立上述關係,得到

IB2≈4.42 μAI_{B2}\approx 4.42\ \mu\text{A} ID1=102.9+4.42≈107.4 μAI_{D1}=102.9+4.42 \approx 107.4\ \mu\text{A} IC2=200IB2≈0.884 mAI_{C2}=200I_{B2} \approx 0.884\ \text{mA}

輸出直流電壓為

VD=5−(ID1+IC2)(3 kΩ)≈2.03 VV_D=5-(I_{D1}+I_{C2})(3\ \text{k}\Omega) \approx 2.03\ \text{V}

Q1Q_1 的小訊號參數

NMOS 過驅電壓:

VOV1=VGS−Vt=2.03−0.7−1≈0.327 VV_{OV1}=V_{GS}-V_t =2.03-0.7-1 \approx 0.327\ \text{V}

所以

gm1=2ID1VOV1=2(107.4 μA)0.327≈0.656 mSg_{m1}=\frac{2I_{D1}}{V_{OV1}} =\frac{2(107.4\ \mu\text{A})}{0.327} \approx 0.656\ \text{mS}

題目已給定

Cgs1=Cgd1=1 pFC_{gs1}=C_{gd1}=1\ \text{pF}

Q2Q_2 的小訊號參數

gm2=IC2VT=0.884 mA25 mV≈35.4 mSg_{m2}=\frac{I_{C2}}{V_T} =\frac{0.884\ \text{mA}}{25\ \text{mV}} \approx 35.4\ \text{mS} rπ2=βgm2=20035.4 mS≈5.65 kΩr_{\pi2}=\frac{\beta}{g_{m2}} =\frac{200}{35.4\ \text{mS}} \approx 5.65\ \text{k}\Omega

由 BJT 截止頻率定義:

fT=gm22π(Cπ2+Cμ2)f_T=\frac{g_{m2}}{2\pi(C_{\pi2}+C_{\mu2})}

因此

Cπ2=gm22πfT−Cμ2C_{\pi2} =\frac{g_{m2}}{2\pi f_T}-C_{\mu2} Cπ2=35.4 mS2π(600 MHz)−0.8 pF≈8.6 pFC_{\pi2} =\frac{35.4\ \text{mS}} {2\pi(600\ \text{MHz})} -0.8\ \text{pF} \approx 8.6\ \text{pF}

所以

Cμ2=0.8 pFC_{\mu2}=0.8\ \text{pF}

(b) 中頻增益與輸入電阻

Q1Q_1 源極交流電壓

Q1Q_1 源極看到的負載為

RS=6.8 kΩ∥rπ2R_S=6.8\ \text{k}\Omega\parallel r_{\pi2} RS=6.8 kΩ∥5.65 kΩ≈3.08 kΩR_S=6.8\ \text{k}\Omega\parallel5.65\ \text{k}\Omega \approx3.08\ \text{k}\Omega

由源極退化關係:

vsvi=gm1RS1+gm1RS\frac{v_s}{v_i} =\frac{g_{m1}R_S}{1+g_{m1}R_S} vsvi=(0.656 mS)(3.08 kΩ)1+(0.656 mS)(3.08 kΩ)≈0.668\frac{v_s}{v_i} =\frac{(0.656\ \text{mS})(3.08\ \text{k}\Omega)} {1+(0.656\ \text{mS})(3.08\ \text{k}\Omega)} \approx0.668

中頻電壓增益

輸出端等效電阻為

Ro=3 kΩ∥1 kΩ=750 ΩR_o=3\ \text{k}\Omega\parallel1\ \text{k}\Omega =750\ \Omega

輸出電流包含 Q1Q_1 與 Q2Q_2 的小訊號電流:

io=gm1(vi−vs)+gm2vsi_o=g_{m1}(v_i-v_s)+g_{m2}v_s

因此

vovi=−Ro[gm1(1−vsvi)+gm2vsvi]\frac{v_o}{v_i} =-R_o\left[ g_{m1}\left(1-\frac{v_s}{v_i}\right) +g_{m2}\frac{v_s}{v_i} \right]

代入數值:

vovi=−750[0.656 mS(1−0.668)+35.4 mS(0.668)]\frac{v_o}{v_i} =-750\left[ 0.656\ \text{mS}(1-0.668) +35.4\ \text{mS}(0.668) \right] vovi≈−17.9\boxed{\frac{v_o}{v_i}\approx-17.9}

負號表示輸出與輸入反相。

Miller 定理與 RinR_{in}

RGR_G 跨接輸入與輸出,輸入端等效電阻為

RG,in=RG1−AvR_{G,\text{in}} =\frac{R_G}{1-A_v}

其中 Av=vo/vi=−17.9A_v=v_o/v_i=-17.9,所以

RG,in=10 MΩ1−(−17.9)≈529 kΩR_{G,\text{in}} =\frac{10\ \text{M}\Omega}{1-(-17.9)} \approx529\ \text{k}\Omega

MOSFET 閘極本身沒有小訊號電流,因此

Rin≈529 kΩ\boxed{R_{in}\approx529\ \text{k}\Omega}

整體電壓增益

訊號源內阻為 100 kΩ100\ \text{k}\Omega,所以

vivsig=Rin100 kΩ+Rin\frac{v_i}{v_{sig}} =\frac{R_{in}}{100\ \text{k}\Omega+R_{in}}
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第 3 題

Figure 3 shows a MOS differential amplifier.
(1) Derive IbiasI_{bias} (current flowing through M1M_1) in terms of RR, μnCox(W/L)1=2(W/L)n\mu_n C_{ox} (W/L)_1 = 2(W/L)_n, μnCox(W/L)2=(W/L)n\mu_n C_{ox} (W/L)_2 = (W/L)_n, μnCox(W/L)3=4(W/L)n\mu_n C_{ox} (W/L)_3 = 4(W/L)_n, μnCox(W/L)4=(W/L)n\mu_n C_{ox} (W/L)_4 = (W/L)_n. Assume ∣Vt∣|V_t| is the same for all devices.

(2) Derive the small-signal voltage gain vd/viv_d/v_i.

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核心觀念

本題考查:

  1. MOS 電流鏡的電流比例。
  2. 電阻回授設定偏壓電流。
  3. MOS 差動對的跨導 gmg_m。
  4. 差動輸入下,兩側輸出電壓的相減。

以下假設所有 MOS 皆工作於飽和區,忽略通道長度調變,且 M6M_6、M7M_7 為匹配的 PMOS 電流鏡。

令

kn=μnCox(W/L)nk_n=\mu_n C_{ox}(W/L)_n

由圖中尺寸可得

k1=2kn,k2=kn,k3=4knk_1=2k_n,\qquad k_2=k_n,\qquad k_3=4k_n

且 M4M_4、M5M_5 的跨導參數皆為 knk_n。


(1) 推導 IbiasI_{bias}

電流鏡關係

M6M_6、M7M_7 為尺寸相同的 PMOS 電流鏡,因此

I6=I7I_6=I_7

由兩個電流鏡節點的 KCL,可得

I2=I3I_2=I_3

令

I2=I3=II_2=I_3=I

M2M_2 的源極接地,M3M_3 的源極電壓為電阻上的電壓:

VS3=IRV_{S3}=IR

設兩個 NMOS 的共閘極電壓為 VGV_G,並令

VOV2=VG−VtV_{OV2}=V_G-V_t

則

VOV3=VG−IR−Vt=VOV2−IRV_{OV3}=V_G-IR-V_t=V_{OV2}-IR

使用 MOS 飽和區電流公式

對 M2M_2:

I=12knVOV22I=\frac{1}{2}k_nV_{OV2}^2

對 M3M_3:

I=12(4kn)VOV32I=\frac{1}{2}(4k_n)V_{OV3}^2

因為 I2=I3I_2=I_3,所以

12knVOV22=12(4kn)VOV32\frac{1}{2}k_nV_{OV2}^2 = \frac{1}{2}(4k_n)V_{OV3}^2

取正的過驅電壓:

VOV2=2VOV3V_{OV2}=2V_{OV3}

又因為 VOV3=VOV2−IRV_{OV3}=V_{OV2}-IR,因此

VOV2=2(VOV2−IR)V_{OV2}=2(V_{OV2}-IR)

整理得

IR=VOV22IR=\frac{V_{OV2}}{2}

亦即

VOV2=2IRV_{OV2}=2IR

代入 M2M_2 的電流式:

I=12kn(2IR)2I=\frac{1}{2}k_n(2IR)^2 I=2knI2R2I=2k_nI^2R^2

取非零偏壓解:

I=12knR2I=\frac{1}{2k_nR^2}

由於 M1M_1 與 M2M_2 共閘極,且

(W/L)1(W/L)2=2\frac{(W/L)_1}{(W/L)_2}=2

故

Ibias=I1=2I2=2II_{bias}=I_1=2I_2=2I

因此

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第 4 題20 分

The VDDV_{DD}, input DC bias, and IBIASI_{BIAS} in Fig. 4 are 5 V, 3 V, and 300 μ\muA, respectively. The transistors in Fig. 4 have μnCoxW1/L1=μnCoxW2/L2=200\mu_n C_{ox} W_1/L_1 = \mu_n C_{ox} W_2/L_2 = 200 μ\muA/V2^2, Vth=1V_{th} = 1 V, and Vthn=−1V_{thn} = -1 V.

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(a) What is the output DC voltage of the circuit?
(b) Find the small-signal voltage gain of the circuit.

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核心觀念

本題考查:

  • NMOS、PMOS 的平方律電流公式
  • 電流鏡的電流複製
  • MOS 飽和區條件
  • 小訊號跨導 gmg_m
  • 共源級放大器的電壓增益

由圖可知,M4M_4 為二極體接法 PMOS,與 M3M_3 形成電流鏡;M2M_2 為二極體接法 PMOS,作為輸出端的負載。

依圖中標示採用:

VTN=1 V,VTP=−1 VV_{TN}=1\text{ V},\qquad V_{TP}=-1\text{ V}

且

μnCoxW1L1=μpCoxW2L2=μpCoxW3L3=μpCoxW4L4=200 μA/V2\mu_n C_{ox}\frac{W_1}{L_1} = \mu_p C_{ox}\frac{W_2}{L_2} = \mu_p C_{ox}\frac{W_3}{L_3} = \mu_p C_{ox}\frac{W_4}{L_4} =200\,\mu\text{A/V}^2

(a) 輸出直流電壓

1. 求 M1M_1 的汲極電流

輸入直流偏壓為 Vin=3V_{in}=3 V,因此

VGS1=3 VV_{GS1}=3\text{ V}

NMOS M1M_1 的過驅電壓為

VOV1=VGS1−VTN=3−1=2 VV_{OV1}=V_{GS1}-V_{TN}=3-1=2\text{ V}

在飽和區:

ID1=12μnCoxW1L1VOV12I_{D1} = \frac{1}{2} \mu_n C_{ox}\frac{W_1}{L_1} V_{OV1}^2

因此

ID1=12(200)(2)2=400 μAI_{D1} = \frac{1}{2}(200)(2)^2 =400\,\mu\text{A}

2. 求 M3M_3 的電流

M4M_4 的電流由 IBIASI_{BIAS} 設定:

ID4=IBIAS=300 μAI_{D4}=I_{BIAS}=300\,\mu\text{A}

因為 M3M_3 與 M4M_4 的尺寸相同,電流鏡將電流複製至 M3M_3:

ID3=300 μAI_{D3}=300\,\mu\text{A}

3. 求 M2M_2 的電流

在輸出節點套用直流 KCL:

ID1=ID2+ID3I_{D1}=I_{D2}+I_{D3}

所以

ID2=400−300=100 μAI_{D2}=400-300=100\,\mu\text{A}

M2M_2 為二極體接法 PMOS,其電流為

ID2=12μpCoxW2L2VOV22I_{D2} = \frac{1}{2} \mu_p C_{ox}\frac{W_2}{L_2} V_{OV2}^2

因此

100=12(200)VOV22100 = \frac{1}{2}(200)V_{OV2}^2

得到

VOV2=1 VV_{OV2}=1\text{ V}

PMOS 的

VSG2=∣VTP∣+VOV2=1+1=2 VV_{SG2}=|V_{TP}|+V_{OV2}=1+1=2\text{ V}

由於 M2M_2 的 source 接至 VDDV_{DD},drain 與 gate 接在輸出端:

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第 5 題10 分

For an ideal BJT the ICI_C doesn't vary with the VCEV_{CE} when BJT is in active mode. However, each ICI_C-VCEV_{CE} curve of the realistic BJT of Fig. 5 slightly increases with the increasing VCEV_{CE} when BJT is in active mode. The injected carrier profiles in base region of BJT with different scenarios of bias are showing in Fig. 6. Which figure in Fig. 6 is the cause of slight increases of ICI_C with enlarged VCEV_{CE} for BJT in active mode? And give your interpretation about the figure you pick in Fig. 6. Why it is the cause of slight increases of ICI_C with enlarged VCEV_{CE} for BJT in active mode? (10%)

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核心觀念

本題考查 BJT 在主動區的 Early effect(厄利效應),也稱為 基極寬度調變(base-width modulation)。

理想 BJT 在主動區滿足:

IC≈ISeVBE/VTI_C \approx I_S e^{V_{BE}/V_T}

因此當 VBEV_{BE} 固定時,ICI_C 應與 VCEV_{CE} 無關。實際 BJT 則因為 VCBV_{CB} 反向偏壓增加,使集極—基極接面空乏區變寬,造成有效中性基極寬度縮短,使 ICI_C 隨 VCEV_{CE} 增加而略微上升。


解題方法

在主動區中:

  • 射極—基極接面為順向偏壓;
  • 集極—基極接面為反向偏壓;
  • 基極內的少數載子濃度由射極側的高濃度,下降至集極側的低濃度;
  • 集極電流主要由基極內少數載子的擴散電流決定。

設原本中性基極寬度為 WBW_B。當 VCEV_{CE} 增加時,VCBV_{CB} 的反向偏壓增大,使集極—基極接面的空乏區向基極側擴展,因此:

WB→WB−ΔWBW_B \rightarrow W_B-\Delta W_B

基極內的少數載子濃度差變化不大,但傳輸距離縮短,因此濃度梯度變大:

∣dpndx∣≈ΔpnWB\left|\frac{dp_n}{dx}\right| \approx \frac{\Delta p_n}{W_B}

當 WBW_B 縮小後:

∣dpndx∣≈ΔpnWB−ΔWB>ΔpnWB\left|\frac{dp_n}{dx}\right| \approx \frac{\Delta p_n}{W_B-\Delta W_B} > \frac{\Delta p_n}{W_B}

而少數載子擴散電流與濃度梯度成正比:

IC∝Dn∣dpndx∣I_C \propto D_n\left|\frac{dp_n}{dx}\right|

所以基極寬度變窄會使集極電流增加:

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第 一 題

請選出正確的英文單字。
(A) affect
(B) effect
(C) electric
(D) electronic

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核心觀念
本題在測驗 英文單字的詞性與常用語意,特別是

  • affect 為動詞(表示「影響」)
  • effect 為名詞(表示「結果、效應」)
  • electric 為形容詞,形容與 電 (電流、電壓…) 直接相關的事物
  • electronic 為形容詞,形容與 電子 (半導體、電路…) 相關的事物

在電學與光電領域常見的術語(如 Hall effect、photoelectric effect)皆以 effect(名詞)出現,而 affect、electric、electronic 並不符合此類名詞用法。


解題過程

  1. 判斷題目所要的語意
    • 題目只給出四個單字,未提供中文詞彙,但考試通常會出現「______ effect」這類填空,要求選出正確的英文單字作為 名詞。
    • 因此需挑選 名詞 且在電學/光電領域常見的詞。
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第 Problem 3 題

請選出正確的英文單字。
(A) affect
(B) effect
(C) electric
(D) electronic

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核心觀念
本題在測驗 英文單字的詞性與常用語意,特別是

  • affect 為動詞(表示「影響」)
  • effect 為名詞(表示「結果、效應」)
  • electric 為形容詞,形容與 電 (電流、電壓…) 直接相關的事物
  • electronic 為形容詞,形容與 電子 (半導體、電路…) 相關的事物

在電學與光電領域常見的術語(如 Hall effect、photoelectric effect)皆以 effect(名詞)出現,而 affect、electric、electronic 並不符合此類名詞用法。


解題過程

  1. 判斷題目所要的語意
    • 題目只給出四個單字,未提供中文詞彙,但考試通常會出現「______ effect」這類填空,要求選出正確的英文單字作為 名詞。
    • 因此需挑選 名詞 且在電學/光電領域常見的詞。
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第 Problem 5 題10 分

For an ideal BJT the ICI_C doesn't vary with the VCEV_{CE} when BJT is in active mode. However, each ICI_C-VCEV_{CE} curve of the realistic BJT of Fig. 5 slightly increases with the increasing VCEV_{CE} when BJT is in active mode. The injected carrier profiles in base region of BJT with different scenarios of bias are showing in Fig. 6. Which figure in Fig. 6 is the cause of slight increases of ICI_C with enlarged VCEV_{CE} for BJT in active mode? And give your interpretation about the figure you pick in Fig. 6. Why it is the cause of slight increases of ICI_C with enlarged VCEV_{CE} for BJT in active mode? (10%)

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核心觀念

本題考查 BJT 在主動區的 Early effect(厄利效應),也稱為 基極寬度調變(base-width modulation)。

理想 BJT 在主動區滿足:

IC≈ISeVBE/VTI_C \approx I_S e^{V_{BE}/V_T}

因此當 VBEV_{BE} 固定時,ICI_C 應與 VCEV_{CE} 無關。實際 BJT 則因為 VCBV_{CB} 反向偏壓增加,使集極—基極接面空乏區變寬,造成有效中性基極寬度縮短,使 ICI_C 隨 VCEV_{CE} 增加而略微上升。


解題方法

在主動區中:

  • 射極—基極接面為順向偏壓;
  • 集極—基極接面為反向偏壓;
  • 基極內的少數載子濃度由射極側的高濃度,下降至集極側的低濃度;
  • 集極電流主要由基極內少數載子的擴散電流決定。

設原本中性基極寬度為 WBW_B。當 VCEV_{CE} 增加時,VCBV_{CB} 的反向偏壓增大,使集極—基極接面的空乏區向基極側擴展,因此:

WB→WB−ΔWBW_B \rightarrow W_B-\Delta W_B

基極內的少數載子濃度差變化不大,但傳輸距離縮短,因此濃度梯度變大:

∣dpndx∣≈ΔpnWB\left|\frac{dp_n}{dx}\right| \approx \frac{\Delta p_n}{W_B}

當 WBW_B 縮小後:

∣dpndx∣≈ΔpnWB−ΔWB>ΔpnWB\left|\frac{dp_n}{dx}\right| \approx \frac{\Delta p_n}{W_B-\Delta W_B} > \frac{\Delta p_n}{W_B}

而少數載子擴散電流與濃度梯度成正比:

IC∝Dn∣dpndx∣I_C \propto D_n\left|\frac{dp_n}{dx}\right|

所以基極寬度變窄會使集極電流增加:

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