109 年 國立成功大學測量及空間資訊學系碩士班《統計學》
第 1 題15 分
事件 U, V, W 發生的先驗機率分別為 , , 。
已知 U, V, W 發生的條件下, 事件 T 發生的機率分別為 、 、 。
試計算機率 、 和 。
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核心觀念
本題評量機率論與貝氏推論(Bayesian Inference)的基礎核心觀念,主要包含以下定理與定義:
- 機率乘法法則(Multiplication Rule):
- 互補事件與差集性質(Complement and Set Difference): 若事件集合 構成樣本空間的分割(Partition),則 。
- 全機率定理(Law of Total Probability):
若事件 構成樣本空間的一組分割,則對任意事件 之邊際機率為: - 貝氏定理(Bayes' Theorem):
在已知事件 發生的條件下,求狀態 的後驗機率(Posterior Probability):
解題方法
第一部分:計算
直接利用條件機率的乘法法則展開:
代入已知數據:
第二部分:計算
根據集合論與差集性質, 代表「事件 發生且事件 不發生」的機率:
其中,事件 與 同時發生的交集機率為:
依貝氏架構,由全機率定理計算事件 的全機率 :
第 2 題20 分
(1) X 和 Y 為隨機向量, 其共變異數矩陣 (Covariance matrix) 為 。
試證明下式成立:
其中 A, B 為常數矩陣, a, b 為常數向量。(10分)
(2) 已知隨機向量 W 的期望值 和其真值 的偏差向量為 ,
試證明其均方誤差矩陣 如下所示:
其中 為隨機向量 W 的變方-協變方矩陣 (Variance-Covariance Matrix)。(10分)
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本題包含兩個部分,第一部分是關於隨機向量的共變異數性質的證明,第二部分是關於估計量的均方誤差矩陣的證明。
(1) 證明
證明共變異數矩陣的性質。
令 和 為隨機向量。
我們有 。
令 和 。
我們需要計算 。
首先,計算 和 :
(線性性質)。
(線性性質)。
接著,計算 和 :
。
。
現在,計算共變異數矩陣:
利用矩陣轉置的性質 :
由於 A 和 是常數矩陣,可以移到期望值外面:
根據共變異數的定義,。
所以,。
即 。
證明完畢。
(2) 證明
這裡的符號有些混亂。題目要求證明 ,但後面又說 是隨機向量 W 的變方-協變方矩陣。
一般來說,如果 是參數 的估計量,則其均方誤差矩陣定義為:
。
。
其中 。
第 3 題15 分
原測設單位的某兩點間距離 S 之測量精度為 。今以測距精度為 檢核此距離, 請依統計原理訂定一個檢核通過的標準和擬定一個程序。
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本題考驗統計檢定在測量精度檢核中的應用,特別是關於兩個獨立測量精度的比較。
核心觀念:
本題的本質是檢定一個新的測量系統(精度為 )是否能「通過檢核」,這意味著新的測量結果與原始測量結果(精度為 )之間不存在顯著差異,或者說,新的測量系統的精度與原始系統的精度是相當的,或者至少能接受。
檢核通過的標準:
統計檢核通過的標準通常是基於顯著水準 來設定的。
在這裡,我們需要比較兩個測量結果之間的差異。假設原始測量得到的距離為 ,其精度為 。新的測量得到的距離為 ,其精度為 。
首先,我們需要一個關於「標準」的定義。通常,「檢核通過」意味著新的測量結果與原始結果的差異在統計上是可以接受的。這個差異可能來自於:
a) 兩個測量系統的真值不同(偏差)。
b) 兩個測量系統的隨機誤差不同。
題目中提到「精度為 檢核此距離」,這暗示我們關注的是這兩個測量結果的隨機誤差。
如果我們假設兩個測量系統的真值是相同的(即沒有系統性偏差),那麼我們只需要比較它們的隨機誤差。
統計原理與程序:
步驟 1:定義假設
我們需要設定虛無假設 () 和對立假設 ()。
通常,檢核通過的標準是檢定新的測量系統的精度是否「差於」或「顯著不同於」原始系統。
在這裡,我們可以考慮以下幾種情況:
情況 A:檢定新的測量系統精度是否「差於」原始系統。
(新的測量精度較差或相同,不通過檢核)
(新的測量精度較好,通過檢核)
這種情況下,我們希望證明新的測量精度比原來好。
情況 B:檢定新的測量系統精度是否「顯著不同於」原始系統。
(新的測量精度與原始系統相同,通過檢核)
(新的測量精度與原始系統不同,可能較差或較好,需要進一步分析)
這種情況下,我們希望證明新的測量精度與原來沒有顯著差異。
情況 C:檢定新的測量系統的誤差是否「大於」某個可接受的標準 。
(新的測量精度在可接受範圍內,通過檢核)
(新的測量精度太差,不通過檢核)
這裡的 可能與 有關,例如 ,其中 k 是一個容忍因子。
題目中提到「檢核此距離」,並且給了 和 ,這更傾向於比較兩個系統的精度。
最常見的檢核是檢定兩個變異數(或標準差)是否相等。
我們採用 情況 B 作為主要檢核目標,即檢定 和 是否顯著不同。
步驟 2:收集數據
要檢定精度,我們需要對同一個距離進行多次測量。
假設我們對同一兩點間距離進行了 次測量,得到樣本標準差為 (題目給的是 ,這通常是已知母體標準差。但實際操作中,我們通常是從樣本數據計算樣本標準差來估計母體標準差。這裡我們假設 是原始系統的「已知」精度,而 是新的系統的「已知」精度。如果 是已知的母體標準差,則直接比較 的關係。但題目要求「依統計原理訂定」,這暗示需要進行統計檢定。因此,更合理的解釋是 和 是通過樣本數據估計出來的精度指標,或者它們代表了各自系統的理論精度,我們需要通過樣本來驗證。
我們假設:
- 原始測量系統的精度為 。
- 新的測量系統的精度為 。
- 我們對同一兩點間距離進行了 次測量,得到樣本標準差 (或者我們就直接使用 作為已知母體標準差)。
- 我們對同一兩點間距離進行了 次測量,得到樣本標準差 (或者我們就直接使用 作為已知母體標準差)。
最常見的檢定是關於兩個獨立樣本的變異數是否相等。
若 和 是已知的母體標準差,則直接比較 和 。
如果 和 是樣本標準差,則需要檢定。
假設題目給的 和 是「理論精度」,而我們需要通過樣本來驗證。
此時,我們需要知道樣本大小。題目中未給出樣本大小。
另一種解釋:
題目給的 是原始系統的精度,而 是新的系統的精度。
「檢核此距離」可能意味著,用精度為 的方法測量某距離,並與原始精度 所能達到的結果進行比較。
如果我們假設 和 是兩個獨立測量系統的「標準差」,且我們對同一距離進行了足夠多的測量,以至於我們可以使用這些標準差來進行檢定。
最合理的解釋是,我們需要檢定兩個獨立樣本的變異數(或標準差)是否相等。
這種檢定通常使用 F 檢定。
步驟 2(修訂):收集數據並計算統計量
假設我們從原始系統(精度 )和新系統(精度 )分別抽取了獨立樣本。
- 原始系統:樣本大小 ,樣本變異數 。
- 新系統:樣本大小 ,樣本變異數 。
檢核通過的標準(基於 F 檢定):
我們採用雙尾檢定,檢定兩個變異數是否相等。
顯著水準設為 (例如 )。
檢定統計量為 F 統計量:
(如果 ) 或 (如果 )。
通常,我們將較大的樣本變異數放在分子。
自由度為:分子自由度 ,分母自由度 。
檢核通過的標準:
如果計算出的 F 值落在拒絕域之外,則我們不能拒絕 ,認為兩個系統的精度沒有顯著差異,檢核通過。
拒絕域為: 或 。
如果 且 ,則檢核通過。
或者,更簡單地,如果 p-value ,則檢核通過。
步驟 3:擬定程序
-
明確目標: 確定檢核的目的。是希望證明新系統的精度「不差於」舊系統,還是「與舊系統無顯著差異」?
- 目標 1 (無顯著差異): 檢定 vs 。
- 目標 2 (新系統不差): 檢定 vs 。
- 目標 3 (新系統可接受): 檢定 vs 。
題目中的「檢核此距離」和「精度為 檢核」,暗示我們關注的是新系統的表現。最常見的是檢定新系統是否「與舊系統有顯著差異」。我們以 目標 1 為主。
-
設定顯著水準 : 通常選擇 或 。
-
收集數據:
- 使用原始測量系統對同一距離進行 次獨立測量,計算樣本標準差 (或使用已知的母體精度 )。
- 使用新的測量系統對同一距離進行 次獨立測量,計算樣本標準差 (或使用已知的母體精度 )。
第 4 題10 分
今欲檢定兩個全新同廠牌同型號的全測站儀器測角精度是否相等,在同樣的環境下,進行了以下的觀測,在顯著水準 之下,試檢定之。
| 全測站儀 A | 全測站儀 B | |
|---|---|---|
| 樣本大小 | 26 | 26 |
| 樣本標準差 | 6.5" | 7.8" |
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本題考驗如何使用統計檢定來比較兩個獨立樣本的變異數(或標準差),以判斷兩個儀器的測角精度是否相等。這與上一題的原理相同,只是具體數據不同。
核心觀念:
比較兩個獨立樣本的變異數是否相等,通常使用 F 檢定。
步驟:
-
設定假設:
- 虛無假設 ():兩個全測站儀器的測角精度相等。這意味著它們的變異數相等。
- 對立假設 ():兩個全測站儀器的測角精度不相等。這意味著它們的變異數不相等。
我們採用雙尾檢定,因為題目沒有指明哪一個儀器精度應該更好,只是問是否相等。
- 虛無假設 ():兩個全測站儀器的測角精度相等。這意味著它們的變異數相等。
-
設定顯著水準:
題目已給定 。 -
收集數據並計算檢定統計量:
- 儀器 A:樣本大小 ,樣本標準差 。樣本變異數 。
- 儀器 B:樣本大小 ,樣本標準差 。樣本變異數 。
計算 F 統計量。我們將較大的樣本變異數放在分子,以簡化臨界值的查找。
。 -
確定自由度:
- 分子自由度:。
- 分母自由度:。
-
確定臨界值並做出決策:
- 我們需要查找 F 分配表中,對於 (雙尾檢定,所以 ),自由度為 和 的臨界值。
- 查找 F 表 (通常在講義最後面),我們找到 。
第 5 題20 分
一個測量平差模型如下所示, 試問要進行哪些檢定, 以及如何進行?
其中 Y 為觀測量, 、、 為已知量, a, b, c 為待定參數。
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本題考驗對測量平差模型進行統計檢定的理解,特別是關於迴歸模型的假設檢定。
核心觀念:
測量平差模型本質上是一個線性迴歸模型,其中 是應變數(觀測量), 是自變數(已知量), 是待定參數(迴歸係數), 是隨機誤差項。
進行統計檢定是為了評估模型的適配程度以及參數估計的顯著性。
要進行的檢定:
-
參數估計的顯著性檢定 (t-檢定):
- 目的: 檢定每個迴歸係數()是否顯著異於零。這有助於確定哪些自變數對應變數有顯著的影響。
- 如何進行:
- 首先,需要對模型進行普通最小平方法 (OLS) 估計,得到參數的估計值 。
- 同時,OLS 估計也會得到參數估計值的標準誤(standard error),記為 。
- 對於每個參數,設定假設檢定:
- 檢定 : vs 。
- 檢定 : vs 。
- 檢定 : vs 。
- 計算 t 統計量:, , 。
- 將計算出的 t 值與相應的自由度(通常是 ,其中 是參數的數量,這裡 )下的 t 分配臨界值進行比較。如果 ,則拒絕 ,認為該參數顯著異於零。
- 也可以計算 p-value,如果 p-value ,則拒絕 。
-
整體模型的顯著性檢定 (F-檢定):
- 目的: 檢定整個迴歸模型是否顯著。也就是說,是否至少有一個自變數對應變數有顯著的影響。
- 如何進行:
- 設定假設檢定:
- 虛無假設 ():所有迴歸係數都等於零 ()。這意味著自變數對應變數沒有任何線性解釋力。
- 對立假設 ():至少有一個迴歸係數不等於零。
- 計算 F 統計量。F 統計量是基於總平方和 (SST)、迴歸平方和 (SSR) 和殘差平方和 (SSE) 來計算的。
,其中 是自變數的數量(這裡 ), 是樣本大小。 - 將計算出的 F 值與相應的自由度 (, ) 下的 F 分配臨界值進行比較。如果 ,則拒絕 ,認為模型整體顯著。
- 也可以計算 p-value,如果 p-value ,則拒絕 。
- 設定假設檢定:
-
殘差分析 (Residual Analysis):
- 目的: 檢驗迴歸模型的關鍵假設是否成立,包括:
- 誤差項的期望值為零 ()。
- 誤差項的方差恆定 (),即同質性 (Homoscedasticity)。
- 誤差項之間相互獨立,無自相關性 (Independence)。
- 誤差項服從常態分配 ()。
- 如何進行:
- 目的: 檢驗迴歸模型的關鍵假設是否成立,包括:
第 6 題20 分
單因子實驗所得的資料如下表, 試檢定各因子水準的平均值是否有顯著的不同?
| 因子水準 1 | 因子水準 2 | 因子水準 3 | 因子水準 4 | |
|---|---|---|---|---|
| 樣本數 | 6 | 5 | 8 | 9 |
| 樣本平均值 | 9.62 | 9.22 | 9.13 | 9.40 |
| 樣本標準差 | 0.035 | 0.052 | 0.028 | 0.043 |
全體平均值: 9.34
以下為統計圖表
🖼️【此處有附圖,請對照原卷】 F 分配圖
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本題考驗單因子變異數分析 (One-Way ANOVA),用於檢定多個群體(因子水準)的平均值是否存在顯著差異。
核心觀念:
單因子變異數分析 (ANOVA) 的目的是比較兩個或多個獨立群體的平均值。它將總變異分解為組間變異 (Between-group variation) 和組內變異 (Within-group variation)。
步驟:
-
設定假設:
- 虛無假設 ():所有因子水準的平均值都相等。
- 對立假設 ():至少有一個因子水準的平均值與其他不同。
- 虛無假設 ():所有因子水準的平均值都相等。
-
設定顯著水準:
題目中未明確給出顯著水準 ,但通常在 ANOVA 中,若未給定,則預設為 。 -
計算各項平方和:
ANOVA 的核心是計算總平方和 (SST)、組間平方和 (SSB, Between-group Sum of Squares) 和組內平方和 (SSW, Within-group Sum of Squares)。
-
組間平方和 (SSB): 衡量各組平均值與總平均值之間的差異。
其中:- 是因子水準的數量 (這裡 )。
- 是第 組的樣本大小。
- 是第 組的樣本平均值。
- 是所有觀測值的總平均值 (題目已給出為 9.34)。
計算 SSB:
-
組內平方和 (SSW): 衡量各組內部觀測值與其組平均值之間的差異。
SSW 可以通過樣本標準差計算。對於第 組,樣本標準差 和樣本大小 ,樣本變異數 。
其中 是第 組的樣本變異數。
-