109 年 國立成功大學測量及空間資訊學系碩士班《統計學》

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第 1 題15 分

事件 U, V, W 發生的先驗機率分別為 P(U)=0.35P(U)=0.35, P(V)=0.45P(V)=0.45, P(W)=0.5P(W)=0.5。
已知 U, V, W 發生的條件下, 事件 T 發生的機率分別為 P(T∣U)=0.5P(T|U)=0.5、 P(T∣V)=0.6P(T|V)=0.6、 P(T∣W)=0.4P(T|W)=0.4。
試計算機率 P(T∩V)P(T \cap V)、 P(Uc∩T)P(U^c \cap T) 和 P(W∣Tc)P(W|T^c)。

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核心觀念

本題評量機率論與貝氏推論(Bayesian Inference)的基礎核心觀念,主要包含以下定理與定義:

  1. 機率乘法法則(Multiplication Rule): P(A∩B)=P(A)P(B∣A)=P(B)P(A∣B)P(A \cap B) = P(A) P(B|A) = P(B) P(A|B)
  2. 互補事件與差集性質(Complement and Set Difference): P(Ac∩B)=P(B∖A)=P(B)−P(A∩B)P(A^c \cap B) = P(B \setminus A) = P(B) - P(A \cap B) 若事件集合 {U,V,W}\{U, V, W\} 構成樣本空間的分割(Partition),則 Uc∩T=(V∩T)∪(W∩T)U^c \cap T = (V \cap T) \cup (W \cap T)。
  3. 全機率定理(Law of Total Probability):
    若事件 U,V,WU, V, W 構成樣本空間的一組分割,則對任意事件 TT 之邊際機率為: P(T)=P(T∩U)+P(T∩V)+P(T∩W)=P(T∣U)P(U)+P(T∣V)P(V)+P(T∣W)P(W)P(T) = P(T \cap U) + P(T \cap V) + P(T \cap W) = P(T|U)P(U) + P(T|V)P(V) + P(T|W)P(W)
  4. 貝氏定理(Bayes' Theorem):
    在已知事件 TcT^c 發生的條件下,求狀態 WW 的後驗機率(Posterior Probability): P(W∣Tc)=P(W∩Tc)P(Tc)=P(Tc∣W)P(W)1−P(T)=[1−P(T∣W)]P(W)1−P(T)P(W|T^c) = \frac{P(W \cap T^c)}{P(T^c)} = \frac{P(T^c|W) P(W)}{1 - P(T)} = \frac{[1 - P(T|W)] P(W)}{1 - P(T)}

解題方法

第一部分:計算 P(T∩V)P(T \cap V)

直接利用條件機率的乘法法則展開:

P(T∩V)=P(T∣V)⋅P(V)P(T \cap V) = P(T|V) \cdot P(V)

代入已知數據:

P(T∩V)=0.6×0.45=0.27P(T \cap V) = 0.6 \times 0.45 = 0.27

第二部分:計算 P(Uc∩T)P(U^c \cap T)

根據集合論與差集性質,Uc∩TU^c \cap T 代表「事件 TT 發生且事件 UU 不發生」的機率:

P(Uc∩T)=P(T)−P(U∩T)P(U^c \cap T) = P(T) - P(U \cap T)

其中,事件 UU 與 TT 同時發生的交集機率為:

P(U∩T)=P(T∣U)⋅P(U)=0.5×0.35=0.175P(U \cap T) = P(T|U) \cdot P(U) = 0.5 \times 0.35 = 0.175

依貝氏架構,由全機率定理計算事件 TT 的全機率 P(T)P(T):

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第 2 題20 分

(1) X 和 Y 為隨機向量, 其共變異數矩陣 (Covariance matrix) 為 Cov(X,Y)Cov(X,Y)。
試證明下式成立:
Cov(AX+a,BY+b)=ACov(X,Y)BTCov(AX + a, BY +b) = A Cov(X,Y) B^T
其中 A, B 為常數矩陣, a, b 為常數向量。(10分)

(2) 已知隨機向量 W 的期望值 E[W]E[W] 和其真值 μ\mu 的偏差向量為 δ=E[W]−μ\delta = E[W] - \mu,
試證明其均方誤差矩陣 MSEMSE 如下所示:
MSE(X,μ)=ΣWW+δδTMSE(X, \mu) = \Sigma_{WW} + \delta \delta^T
其中 ΣWW\Sigma_{WW} 為隨機向量 W 的變方-協變方矩陣 (Variance-Covariance Matrix)。(10分)

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本題包含兩個部分,第一部分是關於隨機向量的共變異數性質的證明,第二部分是關於估計量的均方誤差矩陣的證明。

(1) 證明 Cov(AX+a,BY+b)=ACov(X,Y)BTCov(AX + a, BY +b) = A Cov(X,Y) B^T

證明共變異數矩陣的性質。
令 XX 和 YY 為隨機向量。
我們有 Cov(X,Y)=E[(X−E[X])(Y−E[Y])T]Cov(X, Y) = E[(X - E[X])(Y - E[Y])^T]。
令 U=AX+aU = AX + a 和 V=BY+bV = BY + b。
我們需要計算 Cov(U,V)=E[(U−E[U])(V−E[V])T]Cov(U, V) = E[(U - E[U])(V - E[V])^T]。

首先,計算 E[U]E[U] 和 E[V]E[V]:
E[U]=E[AX+a]=AE[X]+aE[U] = E[AX + a] = A E[X] + a (線性性質)。
E[V]=E[BY+b]=BE[Y]+bE[V] = E[BY + b] = B E[Y] + b (線性性質)。

接著,計算 U−E[U]U - E[U] 和 V−E[V]V - E[V]:
U−E[U]=(AX+a)−(AE[X]+a)=AX−AE[X]=A(X−E[X])U - E[U] = (AX + a) - (A E[X] + a) = AX - A E[X] = A(X - E[X])。
V−E[V]=(BY+b)−(BE[Y]+b)=BY−BE[Y]=B(Y−E[Y])V - E[V] = (BY + b) - (B E[Y] + b) = BY - B E[Y] = B(Y - E[Y])。

現在,計算共變異數矩陣:
Cov(U,V)=E[(U−E[U])(V−E[V])T]Cov(U, V) = E[(U - E[U])(V - E[V])^T]
Cov(U,V)=E[A(X−E[X])(B(Y−E[Y]))T]Cov(U, V) = E[A(X - E[X]) (B(Y - E[Y]))^T]
利用矩陣轉置的性質 (BC)T=CTBT(BC)^T = C^T B^T:
Cov(U,V)=E[A(X−E[X])(Y−E[Y])TBT]Cov(U, V) = E[A(X - E[X]) (Y - E[Y])^T B^T]
由於 A 和 BTB^T 是常數矩陣,可以移到期望值外面:
Cov(U,V)=A(E[(X−E[X])(Y−E[Y])T])BTCov(U, V) = A \left( E[(X - E[X])(Y - E[Y])^T] \right) B^T
根據共變異數的定義,E[(X−E[X])(Y−E[Y])T]=Cov(X,Y)E[(X - E[X])(Y - E[Y])^T] = Cov(X, Y)。
所以,Cov(U,V)=ACov(X,Y)BTCov(U, V) = A Cov(X, Y) B^T。
即 Cov(AX+a,BY+b)=ACov(X,Y)BTCov(AX + a, BY +b) = A Cov(X,Y) B^T。
證明完畢。

(2) 證明 MSE(X,μ)=ΣWW+δδTMSE(X, \mu) = \Sigma_{WW} + \delta \delta^T

這裡的符號有些混亂。題目要求證明 MSE(X,μ)MSE(X, \mu),但後面又說 ΣWW\Sigma_{WW} 是隨機向量 W 的變方-協變方矩陣。
一般來說,如果 θ^\hat{\theta} 是參數 θ\theta 的估計量,則其均方誤差矩陣定義為:
MSE(θ^)=E[(θ^−θ)(θ^−θ)T]MSE(\hat{\theta}) = E[(\hat{\theta} - \theta)(\hat{\theta} - \theta)^T]。
MSE(θ^)=Var(θ^)+Bias(θ^)Bias(θ^)TMSE(\hat{\theta}) = Var(\hat{\theta}) + Bias(\hat{\theta}) Bias(\hat{\theta})^T。
其中 Bias(θ^)=E[θ^]−θBias(\hat{\theta}) = E[\hat{\theta}] - \theta。

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第 3 題15 分

原測設單位的某兩點間距離 S 之測量精度為 σ1\sigma_1。今以測距精度為 σ2\sigma_2 檢核此距離, 請依統計原理訂定一個檢核通過的標準和擬定一個程序。

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這一題的完整詳解

本題考驗統計檢定在測量精度檢核中的應用,特別是關於兩個獨立測量精度的比較。

核心觀念:
本題的本質是檢定一個新的測量系統(精度為 σ2\sigma_2)是否能「通過檢核」,這意味著新的測量結果與原始測量結果(精度為 σ1\sigma_1)之間不存在顯著差異,或者說,新的測量系統的精度與原始系統的精度是相當的,或者至少能接受。

檢核通過的標準:
統計檢核通過的標準通常是基於顯著水準 α\alpha 來設定的。
在這裡,我們需要比較兩個測量結果之間的差異。假設原始測量得到的距離為 S1S_1,其精度為 σ1\sigma_1。新的測量得到的距離為 S2S_2,其精度為 σ2\sigma_2。

首先,我們需要一個關於「標準」的定義。通常,「檢核通過」意味著新的測量結果與原始結果的差異在統計上是可以接受的。這個差異可能來自於:
a) 兩個測量系統的真值不同(偏差)。
b) 兩個測量系統的隨機誤差不同。

題目中提到「精度為 σ2\sigma_2 檢核此距離」,這暗示我們關注的是這兩個測量結果的隨機誤差。
如果我們假設兩個測量系統的真值是相同的(即沒有系統性偏差),那麼我們只需要比較它們的隨機誤差。

統計原理與程序:

步驟 1:定義假設
我們需要設定虛無假設 (H0H_0) 和對立假設 (H1H_1)。
通常,檢核通過的標準是檢定新的測量系統的精度是否「差於」或「顯著不同於」原始系統。
在這裡,我們可以考慮以下幾種情況:

情況 A:檢定新的測量系統精度是否「差於」原始系統。
H0:σ2≥σ1H_0: \sigma_2 \ge \sigma_1 (新的測量精度較差或相同,不通過檢核)
H1:σ2<σ1H_1: \sigma_2 < \sigma_1 (新的測量精度較好,通過檢核)
這種情況下,我們希望證明新的測量精度比原來好。

情況 B:檢定新的測量系統精度是否「顯著不同於」原始系統。
H0:σ2=σ1H_0: \sigma_2 = \sigma_1 (新的測量精度與原始系統相同,通過檢核)
H1:σ2≠σ1H_1: \sigma_2 \neq \sigma_1 (新的測量精度與原始系統不同,可能較差或較好,需要進一步分析)
這種情況下,我們希望證明新的測量精度與原來沒有顯著差異。

情況 C:檢定新的測量系統的誤差是否「大於」某個可接受的標準 σmax\sigma_{max}。
H0:σ2≤σmaxH_0: \sigma_2 \le \sigma_{max} (新的測量精度在可接受範圍內,通過檢核)
H1:σ2>σmaxH_1: \sigma_2 > \sigma_{max} (新的測量精度太差,不通過檢核)
這裡的 σmax\sigma_{max} 可能與 σ1\sigma_1 有關,例如 σmax=kσ1\sigma_{max} = k \sigma_1,其中 k 是一個容忍因子。

題目中提到「檢核此距離」,並且給了 σ1\sigma_1 和 σ2\sigma_2,這更傾向於比較兩個系統的精度。
最常見的檢核是檢定兩個變異數(或標準差)是否相等。
我們採用 情況 B 作為主要檢核目標,即檢定 σ1\sigma_1 和 σ2\sigma_2 是否顯著不同。

步驟 2:收集數據
要檢定精度,我們需要對同一個距離進行多次測量。
假設我們對同一兩點間距離進行了 n1n_1 次測量,得到樣本標準差為 s1s_1 (題目給的是 σ1\sigma_1,這通常是已知母體標準差。但實際操作中,我們通常是從樣本數據計算樣本標準差來估計母體標準差。這裡我們假設 σ1\sigma_1 是原始系統的「已知」精度,而 σ2\sigma_2 是新的系統的「已知」精度。如果 σ1,σ2\sigma_1, \sigma_2 是已知的母體標準差,則直接比較 σ1,σ2\sigma_1, \sigma_2 的關係。但題目要求「依統計原理訂定」,這暗示需要進行統計檢定。因此,更合理的解釋是 σ1\sigma_1 和 σ2\sigma_2 是通過樣本數據估計出來的精度指標,或者它們代表了各自系統的理論精度,我們需要通過樣本來驗證。

我們假設:

  • 原始測量系統的精度為 σ1\sigma_1。
  • 新的測量系統的精度為 σ2\sigma_2。
  • 我們對同一兩點間距離進行了 n1n_1 次測量,得到樣本標準差 s1s_1 (或者我們就直接使用 σ1\sigma_1 作為已知母體標準差)。
  • 我們對同一兩點間距離進行了 n2n_2 次測量,得到樣本標準差 s2s_2 (或者我們就直接使用 σ2\sigma_2 作為已知母體標準差)。

最常見的檢定是關於兩個獨立樣本的變異數是否相等。
若 σ1\sigma_1 和 σ2\sigma_2 是已知的母體標準差,則直接比較 σ1\sigma_1 和 σ2\sigma_2。
如果 σ1\sigma_1 和 σ2\sigma_2 是樣本標準差,則需要檢定。

假設題目給的 σ1\sigma_1 和 σ2\sigma_2 是「理論精度」,而我們需要通過樣本來驗證。
此時,我們需要知道樣本大小。題目中未給出樣本大小。

另一種解釋:
題目給的 σ1\sigma_1 是原始系統的精度,而 σ2\sigma_2 是新的系統的精度。
「檢核此距離」可能意味著,用精度為 σ2\sigma_2 的方法測量某距離,並與原始精度 σ1\sigma_1 所能達到的結果進行比較。

如果我們假設 σ1\sigma_1 和 σ2\sigma_2 是兩個獨立測量系統的「標準差」,且我們對同一距離進行了足夠多的測量,以至於我們可以使用這些標準差來進行檢定。

最合理的解釋是,我們需要檢定兩個獨立樣本的變異數(或標準差)是否相等。
這種檢定通常使用 F 檢定。

步驟 2(修訂):收集數據並計算統計量
假設我們從原始系統(精度 σ1\sigma_1)和新系統(精度 σ2\sigma_2)分別抽取了獨立樣本。

  • 原始系統:樣本大小 n1n_1,樣本變異數 s12s_1^2。
  • 新系統:樣本大小 n2n_2,樣本變異數 s22s_2^2。

檢核通過的標準(基於 F 檢定):
我們採用雙尾檢定,檢定兩個變異數是否相等。
顯著水準設為 α\alpha (例如 α=0.05\alpha = 0.05)。
H0:σ12=σ22H_0: \sigma_1^2 = \sigma_2^2
H1:σ12≠σ22H_1: \sigma_1^2 \neq \sigma_2^2

檢定統計量為 F 統計量:
F=s12s22F = \frac{s_1^2}{s_2^2} (如果 s12>s22s_1^2 > s_2^2) 或 F=s22s12F = \frac{s_2^2}{s_1^2} (如果 s22>s12s_2^2 > s_1^2)。
通常,我們將較大的樣本變異數放在分子。
自由度為:分子自由度 df1=n1−1df_1 = n_1 - 1,分母自由度 df2=n2−1df_2 = n_2 - 1。

檢核通過的標準:
如果計算出的 F 值落在拒絕域之外,則我們不能拒絕 H0H_0,認為兩個系統的精度沒有顯著差異,檢核通過。
拒絕域為:F>Fα/2,df1,df2F > F_{\alpha/2, df_1, df_2} 或 F<F1−α/2,df1,df2F < F_{1-\alpha/2, df_1, df_2}。
如果 Fcalc≤Fα/2,df1,df2F_{calc} \le F_{\alpha/2, df_1, df_2} 且 Fcalc≥F1−α/2,df1,df2F_{calc} \ge F_{1-\alpha/2, df_1, df_2},則檢核通過。
或者,更簡單地,如果 p-value >α> \alpha,則檢核通過。

步驟 3:擬定程序

  1. 明確目標: 確定檢核的目的。是希望證明新系統的精度「不差於」舊系統,還是「與舊系統無顯著差異」?

    • 目標 1 (無顯著差異): 檢定 H0:σ12=σ22H_0: \sigma_1^2 = \sigma_2^2 vs H1:σ12≠σ22H_1: \sigma_1^2 \neq \sigma_2^2。
    • 目標 2 (新系統不差): 檢定 H0:σ22≥σ12H_0: \sigma_2^2 \ge \sigma_1^2 vs H1:σ22<σ12H_1: \sigma_2^2 < \sigma_1^2。
    • 目標 3 (新系統可接受): 檢定 H0:σ22≤σmax2H_0: \sigma_2^2 \le \sigma_{max}^2 vs H1:σ22>σmax2H_1: \sigma_2^2 > \sigma_{max}^2。

    題目中的「檢核此距離」和「精度為 σ2\sigma_2 檢核」,暗示我們關注的是新系統的表現。最常見的是檢定新系統是否「與舊系統有顯著差異」。我們以 目標 1 為主。

  2. 設定顯著水準 α\alpha: 通常選擇 α=0.05\alpha = 0.05 或 α=0.01\alpha = 0.01。

  3. 收集數據:

    • 使用原始測量系統對同一距離進行 n1n_1 次獨立測量,計算樣本標準差 s1s_1(或使用已知的母體精度 σ1\sigma_1)。
    • 使用新的測量系統對同一距離進行 n2n_2 次獨立測量,計算樣本標準差 s2s_2(或使用已知的母體精度 σ2\sigma_2)。
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第 4 題10 分

今欲檢定兩個全新同廠牌同型號的全測站儀器測角精度是否相等,在同樣的環境下,進行了以下的觀測,在顯著水準 α=0.05\alpha = 0.05 之下,試檢定之。

全測站儀 A全測站儀 B
樣本大小2626
樣本標準差6.5"7.8"

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本題考驗如何使用統計檢定來比較兩個獨立樣本的變異數(或標準差),以判斷兩個儀器的測角精度是否相等。這與上一題的原理相同,只是具體數據不同。

核心觀念:
比較兩個獨立樣本的變異數是否相等,通常使用 F 檢定。

步驟:

  1. 設定假設:

    • 虛無假設 (H0H_0):兩個全測站儀器的測角精度相等。這意味著它們的變異數相等。
      H0:σA2=σB2H_0: \sigma_A^2 = \sigma_B^2
    • 對立假設 (H1H_1):兩個全測站儀器的測角精度不相等。這意味著它們的變異數不相等。
      H1:σA2≠σB2H_1: \sigma_A^2 \neq \sigma_B^2
      我們採用雙尾檢定,因為題目沒有指明哪一個儀器精度應該更好,只是問是否相等。
  2. 設定顯著水準:
    題目已給定 α=0.05\alpha = 0.05。

  3. 收集數據並計算檢定統計量:

    • 儀器 A:樣本大小 nA=26n_A = 26,樣本標準差 sA=6.5′′s_A = 6.5''。樣本變異數 sA2=(6.5′′)2=42.25s_A^2 = (6.5'')^2 = 42.25。
    • 儀器 B:樣本大小 nB=26n_B = 26,樣本標準差 sB=7.8′′s_B = 7.8''。樣本變異數 sB2=(7.8′′)2=60.84s_B^2 = (7.8'')^2 = 60.84。

    計算 F 統計量。我們將較大的樣本變異數放在分子,以簡化臨界值的查找。
    Fobs=sB2sA2=60.8442.25≈1.4399F_{obs} = \frac{s_B^2}{s_A^2} = \frac{60.84}{42.25} \approx 1.4399。

  4. 確定自由度:

    • 分子自由度:df1=nB−1=26−1=25df_1 = n_B - 1 = 26 - 1 = 25。
    • 分母自由度:df2=nA−1=26−1=25df_2 = n_A - 1 = 26 - 1 = 25。
  5. 確定臨界值並做出決策:

    • 我們需要查找 F 分配表中,對於 α=0.05\alpha = 0.05 (雙尾檢定,所以 α/2=0.025\alpha/2 = 0.025),自由度為 df1=25df_1 = 25 和 df2=25df_2 = 25 的臨界值。
    • 查找 F 表 (通常在講義最後面),我們找到 Fα/2,df1,df2=F0.025,25,25F_{\alpha/2, df_1, df_2} = F_{0.025, 25, 25}。
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第 5 題20 分

一個測量平差模型如下所示, 試問要進行哪些檢定, 以及如何進行?
Yi=aXi1+bXi2+cXi3+ϵi,i=1∼nY_i = a X_{i1} + b X_{i2} + c X_{i3} + \epsilon_i, \quad i=1 \sim n
其中 Y 為觀測量, Xi1X_{i1}、Xi2X_{i2}、Xi3X_{i3} 為已知量, a, b, c 為待定參數。

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本題考驗對測量平差模型進行統計檢定的理解,特別是關於迴歸模型的假設檢定。

核心觀念:
測量平差模型本質上是一個線性迴歸模型,其中 YiY_i 是應變數(觀測量),Xi1,Xi2,Xi3X_{i1}, X_{i2}, X_{i3} 是自變數(已知量),a,b,ca, b, c 是待定參數(迴歸係數),ϵi\epsilon_i 是隨機誤差項。
進行統計檢定是為了評估模型的適配程度以及參數估計的顯著性。

要進行的檢定:

  1. 參數估計的顯著性檢定 (t-檢定):

    • 目的: 檢定每個迴歸係數(a,b,ca, b, c)是否顯著異於零。這有助於確定哪些自變數對應變數有顯著的影響。
    • 如何進行:
      • 首先,需要對模型進行普通最小平方法 (OLS) 估計,得到參數的估計值 a^,b^,c^\hat{a}, \hat{b}, \hat{c}。
      • 同時,OLS 估計也會得到參數估計值的標準誤(standard error),記為 SE(a^),SE(b^),SE(c^)SE(\hat{a}), SE(\hat{b}), SE(\hat{c})。
      • 對於每個參數,設定假設檢定:
        • 檢定 aa:H0:a=0H_0: a = 0 vs H1:a≠0H_1: a \neq 0。
        • 檢定 bb:H0:b=0H_0: b = 0 vs H1:b≠0H_1: b \neq 0。
        • 檢定 cc:H0:c=0H_0: c = 0 vs H1:c≠0H_1: c \neq 0。
      • 計算 t 統計量:ta=a^SE(a^)t_a = \frac{\hat{a}}{SE(\hat{a})}, tb=b^SE(b^)t_b = \frac{\hat{b}}{SE(\hat{b})}, tc=c^SE(c^)t_c = \frac{\hat{c}}{SE(\hat{c})}。
      • 將計算出的 t 值與相應的自由度(通常是 n−kn-k,其中 kk 是參數的數量,這裡 k=3k=3)下的 t 分配臨界值進行比較。如果 ∣tobs∣>tα/2,n−3|t_{obs}| > t_{\alpha/2, n-3},則拒絕 H0H_0,認為該參數顯著異於零。
      • 也可以計算 p-value,如果 p-value <α<\alpha,則拒絕 H0H_0。
  2. 整體模型的顯著性檢定 (F-檢定):

    • 目的: 檢定整個迴歸模型是否顯著。也就是說,是否至少有一個自變數對應變數有顯著的影響。
    • 如何進行:
      • 設定假設檢定:
        • 虛無假設 (H0H_0):所有迴歸係數都等於零 (a=b=c=0a=b=c=0)。這意味著自變數對應變數沒有任何線性解釋力。
        • 對立假設 (H1H_1):至少有一個迴歸係數不等於零。
      • 計算 F 統計量。F 統計量是基於總平方和 (SST)、迴歸平方和 (SSR) 和殘差平方和 (SSE) 來計算的。
        F=SSR/kSSE/(n−k−1)F = \frac{SSR/k}{SSE/(n-k-1)},其中 kk 是自變數的數量(這裡 k=3k=3),nn 是樣本大小。
      • 將計算出的 F 值與相應的自由度 (dfnum=kdf_{num}=k, dfden=n−k−1df_{den}=n-k-1) 下的 F 分配臨界值進行比較。如果 Fobs>Fα,k,n−k−1F_{obs} > F_{\alpha, k, n-k-1},則拒絕 H0H_0,認為模型整體顯著。
      • 也可以計算 p-value,如果 p-value <α<\alpha,則拒絕 H0H_0。
  3. 殘差分析 (Residual Analysis):

    • 目的: 檢驗迴歸模型的關鍵假設是否成立,包括:
      • 誤差項的期望值為零 (E[ϵi]=0E[\epsilon_i] = 0)。
      • 誤差項的方差恆定 (Var(ϵi)=σ2\text{Var}(\epsilon_i) = \sigma^2),即同質性 (Homoscedasticity)。
      • 誤差項之間相互獨立,無自相關性 (Independence)。
      • 誤差項服從常態分配 (ϵi∼N(0,σ2)\epsilon_i \sim N(0, \sigma^2))。
    • 如何進行:
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第 6 題20 分

單因子實驗所得的資料如下表, 試檢定各因子水準的平均值是否有顯著的不同?

因子水準 1因子水準 2因子水準 3因子水準 4
樣本數6589
樣本平均值9.629.229.139.40
樣本標準差0.0350.0520.0280.043

全體平均值: 9.34

以下為統計圖表
🖼️【此處有附圖,請對照原卷】 F 分配圖

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這一題的完整詳解

本題考驗單因子變異數分析 (One-Way ANOVA),用於檢定多個群體(因子水準)的平均值是否存在顯著差異。

核心觀念:
單因子變異數分析 (ANOVA) 的目的是比較兩個或多個獨立群體的平均值。它將總變異分解為組間變異 (Between-group variation) 和組內變異 (Within-group variation)。

步驟:

  1. 設定假設:

    • 虛無假設 (H0H_0):所有因子水準的平均值都相等。
      H0:μ1=μ2=μ3=μ4H_0: \mu_1 = \mu_2 = \mu_3 = \mu_4
    • 對立假設 (H1H_1):至少有一個因子水準的平均值與其他不同。
      H1:Not all μi are equalH_1: \text{Not all } \mu_i \text{ are equal}
  2. 設定顯著水準:
    題目中未明確給出顯著水準 α\alpha,但通常在 ANOVA 中,若未給定,則預設為 α=0.05\alpha = 0.05。

  3. 計算各項平方和:
    ANOVA 的核心是計算總平方和 (SST)、組間平方和 (SSB, Between-group Sum of Squares) 和組內平方和 (SSW, Within-group Sum of Squares)。
    SST=SSB+SSWSST = SSB + SSW

    • 組間平方和 (SSB): 衡量各組平均值與總平均值之間的差異。
      SSB=∑i=1kni(yˉi−yˉgrand)2SSB = \sum_{i=1}^{k} n_i (\bar{y}_i - \bar{y}_{grand})^2
      其中:

      • kk 是因子水準的數量 (這裡 k=4k=4)。
      • nin_i 是第 ii 組的樣本大小。
      • yˉi\bar{y}_i 是第 ii 組的樣本平均值。
      • yˉgrand\bar{y}_{grand} 是所有觀測值的總平均值 (題目已給出為 9.34)。

      計算 SSB:
      n1=6,yˉ1=9.62n_1=6, \bar{y}_1=9.62
      n2=5,yˉ2=9.22n_2=5, \bar{y}_2=9.22
      n3=8,yˉ3=9.13n_3=8, \bar{y}_3=9.13
      n4=9,yˉ4=9.40n_4=9, \bar{y}_4=9.40
      yˉgrand=9.34\bar{y}_{grand} = 9.34

      SSB=6×(9.62−9.34)2+5×(9.22−9.34)2+8×(9.13−9.34)2+9×(9.40−9.34)2SSB = 6 \times (9.62 - 9.34)^2 + 5 \times (9.22 - 9.34)^2 + 8 \times (9.13 - 9.34)^2 + 9 \times (9.40 - 9.34)^2
      SSB=6×(0.28)2+5×(−0.12)2+8×(−0.21)2+9×(0.06)2SSB = 6 \times (0.28)^2 + 5 \times (-0.12)^2 + 8 \times (-0.21)^2 + 9 \times (0.06)^2
      SSB=6×0.0784+5×0.0144+8×0.0441+9×0.0036SSB = 6 \times 0.0784 + 5 \times 0.0144 + 8 \times 0.0441 + 9 \times 0.0036
      SSB=0.4704+0.0720+0.3528+0.0324SSB = 0.4704 + 0.0720 + 0.3528 + 0.0324
      SSB=0.9276SSB = 0.9276

    • 組內平方和 (SSW): 衡量各組內部觀測值與其組平均值之間的差異。
      SSW 可以通過樣本標準差計算。對於第 ii 組,樣本標準差 sis_i 和樣本大小 nin_i,樣本變異數 si2s_i^2。
      SSW=∑i=1k(ni−1)si2SSW = \sum_{i=1}^{k} (n_i - 1) s_i^2
      其中 si2s_i^2 是第 ii 組的樣本變異數。

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