108 年 國立臺灣大學電信工程學研究所丙組《近代物理》

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📄 以下 3 題共用同一段題幹
  1. Quantum theory of atoms (22%)

第 1-(a) 題4 分

(a) (4%) What is the electron configuration of Ge? (for example 1s22s22p51s^22s^22p^5 for F atoms).

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核心觀念

  • 原子序與電子數:Ge(Germanium)原子序為 32,故必有 32 個電子。
  • 能階填充順序(Aufbau 原則):依照 n+ℓn+\ell 值遞增,若 n+ℓn+\ell 相同則較小 nn 的先填。
  • Pauli 排斥原理:每個子軌道最多容納兩個自旋相反的電子。
  • Hund 規則:同能級的等能子軌道先各佔一電子再配對(對於 pp、dd、ff 軌道)。

解題方法

  1. 列出能階順序:1s<2s<2p<3s<3p<4s<3d<4p<5s<4d…1s < 2s < 2p < 3s < 3p < 4s < 3d < 4p < 5s < 4d \dots。
  2. 依序填入電子,每個軌道的容量為 2(2ℓ+1)2(2\ell+1):
    • 1s21s^2(2 電子) → 累計 2
    • 2s22s^2(2) → 4
    • 2p62p^6(6) → 10
    • 3s23s^2(2) → 12
    • 3p63p^6(6) → 18
    • 4s24s^2(2) → 20
    • 3d103d^{10}(10) → 30
    • 4p24p^2(2) → 32(剛好滿足原子序)
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第 1-(b) 題4 分

(b) (4%) For an electron in the valence band (outmost shell) of Ge crystals, what are the possible sets of quantum numbers? Neglect the hybridization of s and p orbitals. Treat them as discrete orbitals. Note that for each set, you MUST write down its four quantum numbers (n,l,ml,ms)(n, l, m_l, m_s).

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核心觀念

  • 量子數:原子中每個電子用四個量子數 (n,l,ml,ms)(n,l,m_l,m_s) 完全描述
    • 主量子數 nn:能階,正整數
    • 角量子數 ll:軌道形狀,0≤l≤n−10\le l\le n-1,l=0,1,2,3,…l=0,1,2,3,\dots 分別對應 s,p,d,f,…s,p,d,f,\dots
    • 磁量子數 mlm_l:在給定 ll 下的取向,ml=−l,−l+1,…,+lm_l=-l,-l+1,\dots,+l
    • 自旋量子數 msm_s:電子自旋,ms=+12m_s=+\tfrac12 或 −12-\tfrac12(常寫作 ↑,↓\uparrow,\downarrow)
  • 價帶 (valence band):在半導體晶體中由最外層原子軌道(ss、pp)組成的能帶,容納價電子。
  • 忽略 ss–pp 雜化:直接把原子 4s、4p 軌道視為離散能級,不考慮 sp3sp^3 混成,故每個軌道的量子數仍保持原子態的標準形式。

解題方法

  1. 先確定鍺 (Ge) 的原子序 Z=32Z=32,其基態電子配置
    Ge:[Ar] 3d10 4s2 4p2\text{Ge}: [\text{Ar}]\,3d^{10}\,4s^{2}\,4p^{2}
    其中 4s4s、4p4p 為最外層(價)電子,故在晶體的價帶中只考慮這兩類軌道。
  2. 依題目「Treat them as discrete orbitals」及「Neglect the hybridization」,把每個 4s4s、4p4p 軌道分別寫出其允許的四個量子數。
  3. 4s 軌道:
    • n=4n=4(能階)
    • l=0l=0(ss 軌道)
    • ml=0m_l=0(l=0l=0 時唯一)
    • ms=+12m_s=+\tfrac12 或 −12-\tfrac12(自旋兩種可能)
  4. 4p 軌道:
    • n=4n=4
    • l=1l=1(pp 軌道)
    • ml=−1,0,+1m_l=-1,0,+1(三個磁量子數)
    • ms=+12m_s=+\tfrac12 或 −12-\tfrac12(自旋兩種)
  5. 把上述組合列舉即得到所有可能的量子數集合。

完整量子數集合

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第 1-(c) 題14 分

(c) (14%) Considering spin-orbit coupling for an electron of the outmost shell in Ge by treating a Ge atom like hydrogen atom, please calculate the following parameters: radius (r=n2a0r = n^2a_0, a0=0.529a_0 = 0.529 Å), electron velocity (m=0.1m0m = 0.1m_0), frequency, magnetic field (B=μ0fe2rB = \frac{\mu_0 fe}{2r}, μ0=4π×10−7\mu_0 = 4\pi \times 10^{-7}), and the energy difference (ΔE=eℏBm\Delta E = \frac{e\hbar B}{m}) of the splitting states in terms of eV and its equivalent temperature.

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核心觀念

本題探討半導體材料鍺(Ge)最外層電子在類氫原子模型近似下的**自旋-軌道耦合(Spin-Orbit Coupling, SOC)**效應。題幹已提供簡化模型公式,考驗考生綜合運用波耳原子模型、電磁學環形電流磁場與磁矩能階分裂之觀念:

  1. 原子軌道與主量子數:鍺(Ge\text{Ge},原子序 Z=32Z=32)之基態基態電子組態為 [1s22s22p63s23p63d10]4s24p2=[Ar]3d104s24p2[1s^2 2s^2 2p^6 3s^2 3p^6 3d^{10}] 4s^2 4p^2 = [\text{Ar}] 3d^{10} 4s^2 4p^2。其最外層(outmost shell)電子的主量子數為 n=4n = 4。
  2. 波耳模型角動量量子化:電子軌道角動量滿足量子化條件 L=mvr=nℏL = mvr = n\hbar,可求得電子的軌道運動速度 vv。
  3. 軌道等效電流與內部磁場:電子繞核作圓周運動,等效於一微觀環形電流 I=efI = ef。該電流在圓心(電子參照系中的原子核位置)建立之磁場即為自旋-軌道耦合感受到的有效磁場 B=μ0fe2rB = \frac{\mu_0 fe}{2r}。
  4. 能階分裂與等效溫度:電子自旋磁矩在此磁場中的位向分裂能差為 ΔE=2μB=eℏBm\Delta E = 2\mu B = \frac{e\hbar B}{m},其等效溫度滿足熱激發關係式 ΔE=kBT\Delta E = k_B T。

解題方法

第一步:確定主量子數 nn 與軌道半徑 rr

鍺原子最外層電子處於第 4 能階,故主量子數取 n=4n = 4。
依題目給定之波耳軌道半徑公式 r=n2a0r = n^2 a_0,其中 a0=0.529 A˚=0.529×10−10 ma_0 = 0.529\text{ \AA} = 0.529 \times 10^{-10}\text{ m}:

r=42×0.529×10−10 m=16×0.529×10−10 m=8.464×10−10 m=8.464 A˚r = 4^2 \times 0.529 \times 10^{-10}\text{ m} = 16 \times 0.529 \times 10^{-10}\text{ m} = 8.464 \times 10^{-10}\text{ m} = 8.464\text{ \AA}

第二步:計算電子速度 vv

電子在固態能帶結構下的有效質量為 m=0.1m0m = 0.1 m_0:

m=0.1×(9.109×10−31 kg)=9.109×10−32 kgm = 0.1 \times (9.109 \times 10^{-31}\text{ kg}) = 9.109 \times 10^{-32}\text{ kg}

由波耳角動量量子化條件 L=mvr=nℏL = mvr = n\hbar,得軌道速度 vv 為:

v=nℏmr=nℏm(n2a0)=ℏnma0v = \frac{n\hbar}{mr} = \frac{n\hbar}{m(n^2 a_0)} = \frac{\hbar}{n m a_0}

代入物理常數(ℏ=1.0546×10−34 J⋅s\hbar = 1.0546 \times 10^{-34}\text{ J}\cdot\text{s}):

v=4×(1.0546×10−34 J⋅s)(9.109×10−32 kg)×(8.464×10−10 m)≈5.471×106 m/sv = \frac{4 \times (1.0546 \times 10^{-34}\text{ J}\cdot\text{s})}{(9.109 \times 10^{-32}\text{ kg}) \times (8.464 \times 10^{-10}\text{ m})} \approx 5.471 \times 10^6\text{ m/s}

第三步:計算軌道運轉頻率 ff

軌道圓周長為 2πr2\pi r,電子繞行頻率 ff 即為單位時間繞行圈數:

f=v2πr=5.471×106 m/s2π×(8.464×10−10 m)=5.471×1065.318×10−9≈1.029×1015 Hzf = \frac{v}{2\pi r} = \frac{5.471 \times 10^6\text{ m/s}}{2\pi \times (8.464 \times 10^{-10}\text{ m})} = \frac{5.471 \times 10^6}{5.318 \times 10^{-9}} \approx 1.029 \times 10^{15}\text{ Hz}

第四步:計算內部磁場 BB

代入題目給定之環形電流中心磁場公式 B=μ0fe2rB = \frac{\mu_0 fe}{2r},其中真空磁導率 μ0=4π×10−7 T⋅m/A\mu_0 = 4\pi \times 10^{-7}\text{ T}\cdot\text{m/A}、電子電量 e=1.602×10−19 Ce = 1.602 \times 10^{-19}\text{ C}:

B=(4π×10−7)×(1.029×1015)×(1.602×10−19)2×(8.464×10−10)B = \frac{(4\pi \times 10^{-7}) \times (1.029 \times 10^{15}) \times (1.602 \times 10^{-19})}{2 \times (8.464 \times 10^{-10})} B=2.0715×10−101.6928×10−9≈0.1224 TB = \frac{2.0715 \times 10^{-10}}{1.6928 \times 10^{-9}} \approx 0.1224\text{ T}
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📄 以下 2 題共用同一段題幹
  1. Quantum Mechanics (28%)

A particle of mass mm is in a delta potential quantum well of

U(x)=−Aδ(x)U(x) = -A\delta(x)

🖼️【此處有附圖,請對照原卷 Fig. 1 An electron incident on a delta potential】

第 2-(a) 題14 分

(a) (14%) If E<0E < 0, it is called "bound states" case. Wave function can be expressed as Be−Bx\sqrt{B}e^{-Bx}. Find BB and the associated energy level.

(Hint: 1. ψ(x)\psi(x) is continuous and 2. dψ(x)dx\frac{d\psi(x)}{dx} is continuous except at x=0x = 0).

🖼️ 本題含圖表,以下為原卷對應頁面:
原卷第 1 頁

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核心觀念

束縛態的能量滿足 E<0E<0,波函數在遠離 δ\delta 勢阱時必須衰減。δ\delta 勢能 U(x)=−Aδ(x)U(x)=-A\delta(x) 使波函數在 x=0x=0 連續,但導數在該處有跳躍。假設 A>0A>0,定態薛丁格方程為

−ℏ22md2ψdx2−Aδ(x)ψ(x)=Eψ(x)-\frac{\hbar^2}{2m}\frac{d^2\psi}{dx^2}-A\delta(x)\psi(x)=E\psi(x)

解題方法

在 x≠0x\ne 0 處,δ(x)=0\delta(x)=0,方程化為自由粒子的定態方程。令 E=−ℏ2B22mE=-\frac{\hbar^2B^2}{2m},其中 B>0B>0,束縛態波函數須在左右兩側都衰減,因此寫成

ψ(x)=Ce−B∣x∣\psi(x)=C e^{-B|x|}

題目所列的 Be−Bx\sqrt{B}e^{-Bx} 是 x>0x>0 一側的形式;完整波函數需包含 ∣x∣|x|。由波函數連續性,ψ(0)=C\psi(0)=C。在薛丁格方程兩側對 x=0x=0 附近的小區間積分,得到導數跳躍條件:

ψ′(0+)−ψ′(0−)=−2mAℏ2ψ(0)\psi'(0^+)-\psi'(0^-)=-\frac{2mA}{\hbar^2}\psi(0)

由 ψ(x)=Ce−B∣x∣\psi(x)=C e^{-B|x|},

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第 2-(b) 題14 分

(b) (14%) If E>0E > 0, it is called "scattering states" case. See Fig. 1 for scattering details. Assume an incident electron from the left (i.e. G=0G = 0), what are the reflection coefficient (R=∣B∣2∣A∣2R = \frac{|B|^2}{|A|^2}), transmission coefficient (T=∣F∣2∣A∣2T = \frac{|F|^2}{|A|^2})? Please show that R+T=1R + T = 1. Express RR and TT in terms of mm, AA, ℏ\hbar, EE.

🖼️ 本題含圖表,以下為原卷對應頁面:
原卷第 1 頁

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核心觀念

這題考一維吸引型 δ\delta 勢阱的散射。波函數在 x=0x=0 連續,但因勢能含有 δ(x)\delta(x),導數在原點有跳躍:

ψ(0+)=ψ(0−)\psi(0^+)=\psi(0^-) ψ′(0+)−ψ′(0−)=2mℏ2∫−ϵ+ϵU(x)ψ(x) dx=−2mAℏ2ψ(0)\psi'(0^+)-\psi'(0^-) =\frac{2m}{\hbar^2}\int_{-\epsilon}^{+\epsilon}U(x)\psi(x)\,dx =-\frac{2mA}{\hbar^2}\psi(0)

其中 E>0E>0,令 k=2mE/ℏk=\sqrt{2mE}/\hbar。由圖中的入射方向與 G=0G=0,波函數為

ψ(x)={Aeikx+Be−ikx,x<0,Feikx,x>0.\psi(x)= \begin{cases} Ae^{ikx}+Be^{-ikx}, & x<0,\\ Fe^{ikx}, & x>0. \end{cases}

解題方法

先用波函數連續條件:

A+B=FA+B=F

再用導數跳躍條件。左右兩側在原點的導數分別為

ψ′(0−)=ik(A−B),ψ′(0+)=ikF\psi'(0^-)=ik(A-B),\qquad \psi'(0^+)=ikF

因此

ikF−ik(A−B)=−2mAℏ2FikF-ik(A-B)=-\frac{2mA}{\hbar^2}F

代入 F=A+BF=A+B,可得

2ikB=−2mAℏ2(A+B)2ikB=-\frac{2mA}{\hbar^2}(A+B)

令 α=mAℏ2k\alpha=\dfrac{mA}{\hbar^2k},整理振幅比:

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📄 以下 6 題共用同一段題幹
  1. Semiconductor physics and devices (50%)

For a n-MOSFET (Fig. 2), if NDN_D in the n-type source/drain region is 5×1019 cm−35 \times 10^{19}\ \text{cm}^{-3} and NAN_A in the p-type substrate is 1017 cm−310^{17}\ \text{cm}^{-3}. Nc=2.8×1019 cm−3N_c = 2.8 \times 10^{19}\ \text{cm}^{-3} and Nv=1×1019 cm−3N_v = 1 \times 10^{19}\ \text{cm}^{-3}.

🖼️【此處有附圖,請對照原卷 Fig. 2 A n-type Si MOSFET device】

第 3-(a) 題4 分

(a) (4%) Calculate EF−EVE_F - E_V in the p-type Si substrate.

🖼️ 本題含圖表,以下為原卷對應頁面:
原卷第 2 頁

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核心觀念

在非簡併的 p 型半導體中,電洞濃度與費米能階的位置滿足

p0=Nvexp⁡(−EF−EVkBT)p_0=N_v\exp\left(-\frac{E_F-E_V}{k_BT}\right)

其中 p0p_0 是平衡電洞濃度,NvN_v 是價帶有效態密度。題目未指定溫度,以下採用室溫 T=300 KT=300\ \text{K},並假設受體完全游離。

解題方法

由電中性條件,且本題受體濃度遠大於本質載子濃度,可取

p0≈NA=1017 cm−3p_0\approx N_A=10^{17}\ \text{cm}^{-3}

將電洞濃度公式取對數,得到

EF−EV=kBTln⁡(Nvp0)E_F-E_V=k_BT\ln\left(\frac{N_v}{p_0}\right)
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第 3-(b) 題6 分

(b) (6%) Please draw the band diagram along line A by labeling all energy levels (and its relative positions in the source and substrate regions). You can assume EF∼ECE_F \sim E_C in the n+ source region.

🖼️ 本題含圖表,以下為原卷對應頁面:
原卷第 2 頁

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核心觀念

圖中的 A 線穿過 n+n^+ 源極與 pp 型基板,形成 n+pn^+p 接面。熱平衡時,整個接面的費米能階 EFE_F 必須水平;導帶底 ECE_C、本徵能階 EiE_i 與價帶頂 EVE_V 則隨靜電位一起彎曲,且維持固定的相對間距。

題目允許在 n+n^+ 源極取 EF≈ECE_F\approx E_C,因此兩側的能階順序為:

  • n+n^+ 源極:EC≈EF>Ei>EVE_C\approx E_F>E_i>E_V。
  • pp 型基板:EC>Ei>EF>EVE_C>E_i>E_F>E_V。

解題方法

原卷 Fig. 2 的 A 線是由上方的 n+n^+ 源極,向下穿入 pp 型基板,並未穿過閘極或氧化層。本小題未指定外加偏壓,採熱平衡;題目未給溫度及矽能隙,以下採室溫 T=300 KT=300\ \mathrm{K}、Eg=1.12 eVE_g=1.12\ \mathrm{eV},故 kBT≈0.0259 eVk_BT\approx0.0259\ \mathrm{eV}。

1. 決定基板的費米能階位置

pp 型基板採完全游離、非簡併近似,電洞濃度為

p≈NA=Nvexp⁡(−EF−EVkBT).p\approx N_A=N_v\exp\left(-\frac{E_F-E_V}{k_BT}\right).

因此

EF−EV=kBTln⁡NvNA=0.0259ln⁡10191017≈0.119 eV.E_F-E_V =k_BT\ln\frac{N_v}{N_A} =0.0259\ln\frac{10^{19}}{10^{17}} \approx0.119\ \mathrm{eV}.

亦即基板的 EFE_F 位於 EVE_V 上方約 0.119 eV0.119\ \mathrm{eV},而

EC−EF=Eg−(EF−EV)≈1.001 eV.E_C-E_F=E_g-(E_F-E_V) \approx1.001\ \mathrm{eV}.

2. 決定本徵能階的位置

由於 Nc≠NvN_c\ne N_v,EiE_i 並非恰在能隙中央:

Ei=EC+EV2+kBT2ln⁡NvNc.E_i=\frac{E_C+E_V}{2} +\frac{k_BT}{2}\ln\frac{N_v}{N_c}.

所以

EC−Ei=Eg2+kBT2ln⁡NcNv=0.560+0.02592ln⁡2.8≈0.573 eV,E_C-E_i =\frac{E_g}{2} +\frac{k_BT}{2}\ln\frac{N_c}{N_v} =0.560+\frac{0.0259}{2}\ln2.8 \approx0.573\ \mathrm{eV}, Ei−EV≈1.12−0.573=0.547 eV.E_i-E_V\approx1.12-0.573=0.547\ \mathrm{eV}.

在 n+n^+ 源極,由 EF≈ECE_F\approx E_C 得

Ei−EF≈−0.573 eV.E_i-E_F\approx-0.573\ \mathrm{eV}.

在 pp 型基板則有

Ei−EF=(Ei−EV)−(EF−EV)≈0.547−0.119=0.428 eV.E_i-E_F=(E_i-E_V)-(E_F-E_V) \approx0.547-0.119=0.428\ \mathrm{eV}.

3. 畫出沿 A 線的能帶圖

令共同的 EF=0E_F=0,兩側遠離接面處的能階位置如下:

能階n+n^+ 源極pp 型基板
ECE_C約 00+1.001 eV+1.001\ \mathrm{eV}
EiE_i−0.573 eV-0.573\ \mathrm{eV}+0.428 eV+0.428\ \mathrm{eV}
EFE_F0000
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第 3-(c) 題10 分

(c) (10%) Please qualitatively draw the band diagram along line B. Assume VGS=2V_{GS} = 2 V, VFB=0V_{FB} = 0 V, and the system is in strong inversion. Label the energy levels of EFME_{FM} (Fermi level in metal), ECE_C, EiE_i, EFSE_{FS} (Fermi level in semiconductor), and EVE_V. Note that you also need to mark the energy differences between (i) EFSE_{FS} and EFME_{FM}, (ii) EFSE_{FS} and EVE_V in the bulk p-Si, and (iii) EFSE_{FS} and ECE_C at the oxide/p-Si interface.

🖼️ 本題含圖表,以下為原卷對應頁面:
原卷第 2 頁

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核心觀念

本題考的是 MOS 結構在正閘極偏壓下的能帶彎曲與強反轉。對 p 型基板施加正的 VGSV_{GS},會使靠近氧化層的矽能帶向下彎曲,吸引電子形成反轉層。

作圖時須掌握三點:

  • 矽中的 ECE_C、EiE_i、EVE_V 隨電位一起移動,彼此間距保持不變。
  • 半導體內無垂直方向的穩態電流,故 EFSE_{FS} 為水平線。
  • 閘極與半導體隔著氧化層,兩者的費米能階不必相等;正閘極電壓使 EFME_{FM} 比 EFSE_{FS} 低。

解題方法

原卷 Fig. 2 的 B 線由金屬閘極向下穿過氧化層,再進入 p 型矽基板,因此應沿「金屬 → 氧化層 → 矽表面 → 矽本體」作圖。圖中源極接地,本小題給定 VGS=2 VV_{GS}=2\ \text{V}、VFB=0V_{FB}=0,並指定強反轉。

原題未給溫度、矽能隙及氧化層電容;以下採室溫 T=300 KT=300\ \text{K}、Eg=1.12 eVE_g=1.12\ \text{eV},並以強反轉常用近似 ψs≃2ϕF\psi_s\simeq2\phi_F 標示表面能階。

一、金屬與半導體的費米能階差

電子電荷為 −q-q,故正閘極電壓使金屬電子能量下降:

EFM−EFS=−qVGS.E_{FM}-E_{FS}=-qV_{GS}.

因此

EFS−EFM=2.00 eV.\boxed{E_{FS}-E_{FM}=2.00\ \text{eV}}.

以 EFS=0E_{FS}=0 為能量基準,金屬內的水平費米能階位於 EFM=−2.00 eVE_{FM}=-2.00\ \text{eV}。VFB=0V_{FB}=0 表示零閘極偏壓時能帶平坦,並不表示施加偏壓後兩個費米能階仍相等。

二、p 型矽本體的能階位置

假設受體完全游離,則本體電洞濃度 p0≃NAp_0\simeq N_A。利用

p0=NVexp⁡[−EFS−EVkBT],p_0=N_V\exp\left[-\frac{E_{FS}-E_V}{k_BT}\right],

得到

(EFS−EV)本體=kBTln⁡NVNA=(0.02585)ln⁡10191017≃0.119 eV.\begin{aligned} (E_{FS}-E_V)_{\text{本體}} &=k_BT\ln\frac{N_V}{N_A}\\ &=(0.02585)\ln\frac{10^{19}}{10^{17}}\\ &\simeq0.119\ \text{eV}. \end{aligned}

本徵能階並非恰好位於能隙中央,須保留有效態密度的修正:

Ei−EV=Eg2+kBT2ln⁡NVNC=0.560+0.025852ln⁡12.8≃0.547 eV.\begin{aligned} E_i-E_V &=\frac{E_g}{2}+\frac{k_BT}{2}\ln\frac{N_V}{N_C}\\ &=0.560+\frac{0.02585}{2}\ln\frac{1}{2.8}\\ &\simeq0.547\ \text{eV}. \end{aligned}

因此,本體中的費米位勢為

qϕF=(Ei−EFS)本體=0.547−0.119≃0.428 eV.q\phi_F=(E_i-E_{FS})_{\text{本體}} =0.547-0.119 \simeq0.428\ \text{eV}.

本體的 EiE_i 必須畫在 EFSE_{FS} 上方。以 EFS=0E_{FS}=0 為基準:

EC,本體≃1.001,Ei,本體≃0.428,EV,本體≃−0.119(eV).\boxed{ E_{C,\text{本體}}\simeq1.001,\qquad E_{i,\text{本體}}\simeq0.428,\qquad E_{V,\text{本體}}\simeq-0.119 \quad(\text{eV}) }.

三、強反轉時的矽表面能階

採用 ψs≃2ϕF\psi_s\simeq2\phi_F:

ψs≃0.856 V.\psi_s\simeq0.856\ \text{V}.

矽表面的三條能帶相對本體向下移動約 0.856 eV0.856\ \text{eV},故

EC,s−EFS≃1.001−0.856=0.145 eV,Ei,s−EFS≃0.428−0.856=−0.428 eV,EV,s−EFS≃−0.119−0.856=−0.975 eV.\begin{aligned} E_{C,s}-E_{FS} &\simeq1.001-0.856 =0.145\ \text{eV},\\ E_{i,s}-E_{FS} &\simeq0.428-0.856 =-0.428\ \text{eV},\\ E_{V,s}-E_{FS} &\simeq-0.119-0.856 =-0.975\ \text{eV}. \end{aligned}

保留未四捨五入的中間值,表面導帶與價帶位置分別約為 +0.146 eV+0.146\ \text{eV}、−0.974 eV-0.974\ \text{eV}。因此題目要求的第三個差值為

(EC−EFS)s≃0.146 eV.\boxed{(E_C-E_{FS})_s\simeq0.146\ \text{eV}}.
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第 3-(d) 題10 分

(d) (10%) Please qualitatively draw the band diagram along line C (in the Si region and right at the oxide/Si interface). Following (c) by assuming the system is in strong inversion and VDS=2V_{DS} = 2 V. Label the energy levels of ECE_C, and EVE_V, and Fermi levels in the source (EFSE_{FS}), drain (EFDE_{FD}), and channel (EFCE_{FC}). You need to mark the energy differences between (i) EFSE_{FS} and EFDE_{FD}, (ii) EFCE_{FC} and ECE_C at the oxide/p-Si interface.

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核心觀念

題目要沿著 Fig. 2 的 C 線,描述 n-MOSFET 表面能帶與電子準費米能階。加上汲極電壓後,元件處於非平衡狀態,源極、通道與汲極不能用同一條平坦的費米能階表示;應分別標示 EFSE_{FS}、EFC(x)E_{FC}(x)、EFDE_{FD}。

解題方法

由圖可讀到:C 線沿著閘極下方的 Si 表面,從 n+ 源極穿過通道至 n+ 汲極;基板為 p 型,源極接地,閘極加 VGSV_{GS},汲極加 VDSV_{DS}。承接 (c),VGS=2 VV_{GS}=2\ \mathrm V、VFB=0V_{FB}=0;本題再給 VDS=2 VV_{DS}=2\ \mathrm V,並假設通道處於強反轉。

先判斷通道是否夾止。理想 p 型基板 n-MOSFET 的臨界電壓為

VT=VFB+2ϕF+4qϵSiNAϕFCox,ϕF=kBTqln⁡(NAni)>0.V_T=V_{FB}+2\phi_F+ \frac{\sqrt{4q\epsilon_{\mathrm{Si}}N_A\phi_F}}{C_{\mathrm{ox}}}, \qquad \phi_F=\frac{k_BT}{q}\ln\left(\frac{N_A}{n_i}\right)>0.

因此 VT>0V_T>0。強反轉條件表示 VGS>VTV_{GS}>V_T,而汲極端的夾止電壓為 VDS,sat=VGS−VTV_{DS,\mathrm{sat}}=V_{GS}-V_T。所以

VDS,sat=2 V−VT<2 V=VDS.V_{DS,\mathrm{sat}}=2\ \mathrm V-V_T<2\ \mathrm V=V_{DS}.

通道在汲極側夾止,超過夾止電壓的部分主要落在汲極側的夾止/耗盡區,該處電位變化較急,能帶也會較陡地往低能方向下降。圖中未提供 CoxC_{\mathrm{ox}},因此不能算出 VTV_T、夾止位置或通道內各點的精確能階。

能量差方面,汲極電位比源極高 2 V2\ \mathrm V,電子能量的方向相反,因此源極準費米能階高於汲極:

EFS−EFD=qVDS=2 eV.E_{FS}-E_{FD}=qV_{DS}=2\ \mathrm{eV}.

通道中的電子準費米能階 EFC(x)E_{FC}(x) 從源極的 EFSE_{FS} 逐漸下降,並在汲極接近 EFDE_{FD}。重摻雜源、汲極的 EFE_F 可依題意近似畫在 ECE_C 附近;這不是用非簡併近似公式計算的區域。

在閘氧化層與 p-Si 的界面,採非簡併近似時,局部導帶與通道電子準費米能階的差為

EC(x,surface)−EFC(x)=kBTln⁡(NCns(x)).E_C(x,\mathrm{surface})-E_{FC}(x) =k_BT\ln\left(\frac{N_C}{n_s(x)}\right).

其中 ns(x)n_s(x) 是 C 線該位置的局部電子濃度。源端強反轉時電子濃度較高,能階差較小;向汲極夾止區移動時,反轉電子濃度降低,能階差增大。

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第 3-(e) 題10 分

(e) (10%) Considering the following parameters: work function of metal gate, substrate doping level, and oxide thickness. Please describe how we could vary the above three parameters to reduce the threshold voltage.

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核心觀念

這題考 n 型 MOSFET 在 p 型基板上的臨界電壓 VTV_T。忽略氧化層電荷,並以 ϕF>0\phi_F>0 表示 p 型基板的費米位能大小,可寫成

VT=VFB+2ϕF+∣Qd,max⁡∣CoxV_T=V_{FB}+2\phi_F+\frac{|Q_{d,\max}|}{C_{ox}}

其中

VFB=Φm−Φs,ϕF=kTqln⁡ ⁣(NAni),∣Qd,max⁡∣=4qεsNAϕF,Cox=εoxtox.V_{FB}=\Phi_m-\Phi_s,\qquad \phi_F=\frac{kT}{q}\ln\!\left(\frac{N_A}{n_i}\right),\qquad |Q_{d,\max}|=\sqrt{4q\varepsilon_sN_A\phi_F},\qquad C_{ox}=\frac{\varepsilon_{ox}}{t_{ox}}.

解題方法

  1. 降低金屬閘極功函數 Φm\Phi_m:
    由 VFB=Φm−ΦsV_{FB}=\Phi_m-\Phi_s 可知,降低 Φm\Phi_m 會降低 VFBV_{FB},因此降低 VTV_T。
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第 3-(f) 題10 分

(f) (10%) Considering the following parameters: gate length, oxide capacitance, and mobility. Please describe how we could adjust the above three parameters to enhance the device performance in MOSFETs (i.e. higher current density).

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核心觀念

MOSFET 的汲極電流主要受**通道長度 LL、單位面積閘極氧化層電容 CoxC_{\mathrm{ox}},以及載子遷移率 μ\mu**控制。以長通道模型為例,線性區電流為

ID=μCoxWL[(VGS−Vth)VDS−VDS22]I_D=\mu C_{\mathrm{ox}}\frac{W}{L} \left[(V_{GS}-V_{\mathrm{th}})V_{DS}-\frac{V_{DS}^2}{2}\right]

飽和區電流為

ID,sat=12μCoxWL(VGS−Vth)2I_{D,\mathrm{sat}}=\frac{1}{2}\mu C_{\mathrm{ox}}\frac{W}{L} (V_{GS}-V_{\mathrm{th}})^2

在其他條件相同時,提高 μ\mu 或 CoxC_{\mathrm{ox}},以及縮短 LL,都能提高汲極電流與驅動能力。

解題方法

逐一看公式中的比例關係:

  • 縮短閘極長度 LL:電流與 1/L1/L 成正比,因此縮短通道可提高電流密度與切換速度。
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