108 年 國立成功大學電機工程學系碩士班甲組《電子材料概論》

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第 1 題20 分

Briefly explain the following items:
(a) Screw dislocation
(b) Bragg's law
(c) Intermetallic compounds
(d) Piezoelectric material
(e) Seebeck effect
(f) Fick's first law
(g) Grain boundary
(h) Hall effect
(i) Eutectic reaction
(j) Ferromagnetism

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這一題的完整詳解

本題為概念解釋題,主要在於測試考生對電子材料基本名詞的理解程度。以下逐一解釋:

(a) Screw dislocation (螺位錯):
螺位錯是一種線缺陷,其特徵是晶體結構中存在一個螺旋形的斷裂面。當施加剪應力時,原子鍵的斷裂與重組會沿著螺位錯線傳播,導致原子層的滑移,進而引起材料的塑性變形。其核心概念是原子平面形成螺旋階梯狀。

(b) Bragg's law (布拉格定律):
布拉格定律描述了 X 光或中子繞射時,晶體結構與繞射波之間的關係。當入射波長為 λ\lambda 的輻射與晶體中的原子平面發生繞射時,若繞射角為 θ\theta,原子平面間距為 dd,則產生建設性干涉的條件為 nλ=2dsin⁡θn\lambda = 2d\sin\theta,其中 nn 為整數,代表繞射級數。此定律是利用 X 光繞射分析晶體結構的基礎。

(c) Intermetallic compounds (金屬間化合物):
金屬間化合物是由兩種或兩種以上金屬元素,或金屬與非金屬元素,以固定比例或一定範圍比例結合而成的化合物。它們通常具有特定的化學計量比、規則的晶體結構、高硬度、高熔點、脆性等特性,與其組成金屬的性質有顯著差異。例如,黃銅(Cu-Zn)、青銅(Cu-Sn)等。

(d) Piezoelectric material (壓電材料):
壓電材料是一種在受到機械應力作用時,其表面會產生電極化的材料,進而產生電壓;反之,當施加電場時,材料會產生機械變形。這種現象稱為壓電效應。壓電材料常應用於感測器、致動器、換能器等領域。常見的壓電材料有石英、壓電陶瓷(如 PZT)等。

(e) Seebeck effect (塞貝克效應):
塞貝克效應是熱電效應的一種,指當兩種不同導體或半導體連接成閉合迴路,且兩個接點的溫度不同時,迴路中會產生電動勢(電壓)的現象。這種現象是將熱能轉換為電能的基礎,應用於溫差電發電機。

(f) Fick's first law (菲克第一定律):
菲克第一定律描述了在穩態條件下,擴散通量與濃度梯度之間的關係。它指出,擴散通量(單位時間內通過單位面積的粒子數)與濃度梯度成正比,方向與濃度降低的方向相反。

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第 2 題10 分

Compare the atomic packing factors (the volume fraction of atoms in an unit cell) of the bcc, fcc, and hcp crystal structures.

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本題要求比較體心立方 (bcc)、面心立方 (fcc) 和六方密堆積 (hcp) 三種晶體結構的原子堆積因子 (Atomic Packing Factor, APF)。原子堆積因子定義為單位晶胞中原子體積佔晶胞總體積的比例。

計算步驟如下:

  1. 體心立方 (bcc):

    • 單位晶胞中有 2 個原子 (8 個角原子 x 1/8 + 1 個中心原子)。
    • 原子視為硬球,且緊密接觸。在 bcc 結構中,體對角線上的原子是緊密接觸的。
    • 設原子半徑為 rr,晶胞邊長為 aa。體對角線長度為 3a\sqrt{3}a。
    • 體對角線上有 3 個原子半徑的總和,即 4r=3a4r = \sqrt{3}a。
    • 因此,a=4r3a = \frac{4r}{\sqrt{3}}。
    • 單位晶胞體積 Vcell=a3=(4r3)3=64r333V_{cell} = a^3 = (\frac{4r}{\sqrt{3}})^3 = \frac{64r^3}{3\sqrt{3}}。
    • 原子總體積 Vatoms=2×43πr3=83πr3V_{atoms} = 2 \times \frac{4}{3}\pi r^3 = \frac{8}{3}\pi r^3。
    • APFbcc=VatomsVcell=83πr364r333=8π64/3=π38≈0.68_{bcc} = \frac{V_{atoms}}{V_{cell}} = \frac{\frac{8}{3}\pi r^3}{\frac{64r^3}{3\sqrt{3}}} = \frac{8\pi}{64/\sqrt{3}} = \frac{\pi\sqrt{3}}{8} \approx 0.68。
  2. 面心立方 (fcc):

    • 單位晶胞中有 4 個原子 (8 個角原子 x 1/8 + 6 個面中心原子 x 1/2)。
    • 在 fcc 結構中,面上的對角線上的原子是緊密接觸的。
    • 設原子半徑為 rr,晶胞邊長為 aa。
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第 3 題10 分

To form a solid solution, the Hume-Rothery rule is the main criterion. Based on this rule, please indicate which one of Zn (atomic radius=0.133 nm) and Ni (atomic radius=0.1246 nm) is easier to form a solid solution with the Cu (atomic radius=0.125 nm).

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本題考查的是固溶體形成的 Hume-Rothery 規則。Hume-Rothery 規則是判斷兩種金屬是否容易形成固溶體(特別是取代型固溶體)的經驗法則,主要考量以下四個因素:

  1. 原子半徑差異 (Atomic Size Factor):原子半徑差異越小,越容易形成固溶體。一般認為,若原子半徑差異大於 15%,則形成連續固溶體的可能性較小。
  2. 晶體結構 (Crystal Structure):兩種金屬應具有相同的或非常相似的晶體結構。
  3. 電負度差異 (Electronegativity Difference):電負度差異越小,越有利於形成固溶體。較大的電負度差異可能導致形成金屬間化合物。
  4. 價電子數 (Valence Electron Concentration):價電子數較高的元素傾向於溶解價電子數較低的元素,反之則較難。

本題中,我們主要關注原子半徑和價電子數這兩個關鍵因素,因為題目已給出原子半徑,且 Cu、Zn、Ni 都為金屬,晶體結構和電負度差異也相對接近,可初步判斷。

已知數據:

  • 銅 (Cu):原子半徑 rCu=0.125r_{Cu} = 0.125 nm
  • 鋅 (Zn):原子半徑 rZn=0.133r_{Zn} = 0.133 nm
  • 鎳 (Ni):原子半徑 rNi=0.1246r_{Ni} = 0.1246 nm

分析步驟:

  1. 比較原子半徑差異:
    • Cu 與 Zn:
      • 半徑差異 =∣rZn−rCu∣=∣0.133−0.125∣=0.008= |r_{Zn} - r_{Cu}| = |0.133 - 0.125| = 0.008 nm
      • 差異百分比 =0.0080.125×100%=6.4%= \frac{0.008}{0.125} \times 100\% = 6.4\%
      • 這個差異百分比小於 15%,符合 Hume-Rothery 規則。
    • Cu 與 Ni:
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第 4 題10 分

Draw direction vectors in unit cell for the following directions.
(a) [110]
(b) [210]
(c) [112]

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本題要求繪製立方晶系單位晶胞中的特定晶向向量。繪製晶向向量的基本步驟是:

  1. 選擇原點。通常選擇晶胞的某一個頂點作為原點 (0,0,0)。
  2. 根據向量的指數 [uvw],確定向量終點的座標。向量 [uvw] 代表從原點出發,沿 x, y, z 三個軸方向移動 u, v, w 單位的距離(單位通常是晶胞邊長 a)。如果指數不是整數,需要先化簡為最簡整數比。
  3. 連接原點與終點,即為所求的晶向向量。

繪製說明:
我們以立方晶胞的左下後頂點為原點 (0,0,0)。x 軸指向右,y 軸指向前,z 軸指向上。晶胞邊長為 aa。

(a) [110] 向量:

  • 指數為 (1, 1, 0)。
  • 表示從原點 (0,0,0) 出發,沿 x 軸移動 1 個單位 (aa),沿 y 軸移動 1 個單位 (aa),沿 z 軸移動 0 個單位。
  • 終點座標為 (1, 1, 0)。
  • 繪製:從原點 (0,0,0) 出發,沿著 x 軸走到 x=a 的邊,再沿著 y 軸走到 y=a 的邊,則到達 (1,1,0) 點。此點位於下底面的右上角。連接原點 (0,0,0) 與此點 (1,1,0),即為 [110] 向量。這個向量位於 xy 平面上,沿著 xy 平面上的對角線。

(b) [210] 向量:

  • 指數為 (2, 1, 0)。
  • 首先,需要將指數化簡為最簡整數比。在單位晶胞的範圍內,指數通常指的是相對於晶胞邊長的倍數。如果指數大於 1,則表示向量的終點超出一個單位晶胞,或者需要理解為相對位置。對於晶向,我們通常考慮方向,所以可以將 [210] 理解為方向向量 (2,1,0)。
  • 表示從原點 (0,0,0) 出發,沿 x 軸移動 2 個單位 (2a2a),沿 y 軸移動 1 個單位 (aa),沿 z 軸移動 0 個單位。
  • 在一個單位晶胞內,我們通常只考慮終點在晶胞內或與晶胞邊界相交的向量。如果我們從 (0,0,0) 出發,終點是 (2a, a, 0),這超出了單位晶胞。
  • 然而,[uvw] 代表的是方向。所以,向量 (2,1,0) 的方向與向量 (1, 0.5, 0) 的方向相同。如果我們考慮的是從原點 (0,0,0) 出發,終點在晶胞內的向量,則我們應考慮一個代表該方向的向量。
  • 一般來說,[uvw] 代表從原點出發,終點在 (ua, va, wa) 的點。對於 [210],終點是 (2a, a, 0)。
  • 如果我們將原點設在晶胞的左下後頂點 (0,0,0),那麼向量 (2,1,0) 的終點會超出晶胞。
  • 重要概念: 晶向向量的指數代表的是方向,而不是絕對位置。[uvw] 指向從原點到 (u,v,w) 的方向。在一個單位晶胞內,我們可以選擇任何一個頂點作為原點。
  • 讓我們從晶胞的左下後頂點 (0,0,0) 開始。那麼向量 [210] 的終點是 (2,1,0)。這個點超出了單位晶胞。
  • 更標準的理解: [uvw] 代表從原點出發,終點座標為 (u⋅a,v⋅a,w⋅a)(u \cdot a, v \cdot a, w \cdot a)。對於 [210],終點是 (2a,a,0)(2a, a, 0)。
  • 在單位晶胞內表示: 我們需要找到一個代表此方向的向量,其終點在晶胞內或與晶胞邊界相交。
  • 另一種方法: 考慮從原點 (0,0,0) 出發,移動 2 個單位沿 x,1 個單位沿 y。如果我們從晶胞中央的某個點出發,或者從另一個頂點出發,就可以畫出。
  • 最常見的繪法: 選擇一個頂點作為原點 (0,0,0)。向量 [210] 代表從原點 (0,0,0) 出發,沿 x 軸移動 2 倍晶胞長度,沿 y 軸移動 1 倍晶胞長度,沿 z 軸移動 0 倍晶胞長度。
  • 解決方案: 由於指數是 2, 1, 0,這意味著向量的終點是 (2a,a,0)(2a, a, 0)。為了在一個單位晶胞內表示這個方向,我們可以將原點移動,或者考慮這個方向上的任意一點。
  • 另一種理解方式: [uvw] 指向從原點 (0,0,0) 到 (u, v, w) 的方向。若 u,v,w 較大,則表示向量較長。
  • 繪製 [210]: 我們可以從原點 (0,0,0) 出發,沿 x 軸移動 2 個單位,沿 y 軸移動 1 個單位。這個終點會超出一個單位晶胞。
  • 正確的繪法: [uvw] 代表方向。我們可以從晶胞的某個頂點出發,例如 (0,0,0)。終點是 (2a, a, 0)。
  • 更簡潔的表示: 選擇一個原點,比如左下後頂點 (0,0,0)。那麼向量 [210] 的終點是 (2a,a,0)(2a, a, 0)。
  • 另一種常見做法: 繪製從原點 (0,0,0) 出發,終點為 (a,12a,0)(a, \frac{1}{2}a, 0) 的向量。這是與 [210] 同方向的向量。
  • 直接繪製: 選擇原點 (0,0,0)。向量 [210] 的終點為 (2a,a,0)(2a, a, 0)。
  • 最簡單的理解: [uvw] 代表從原點出發,終點座標為 (u,v,w)(u, v, w)。我們從晶胞的左下後頂點 (0,0,0) 出發。沿 x 軸正向走 2 個單位,沿 y 軸正向走 1 個單位。這個終點會超出單位晶胞。
  • 實際繪製: 通常是在單位晶胞內尋找能代表該方向的向量。我們可以將原點放在晶胞的左下後頂點。向量 [210] 的終點是 (2,1,0)。
  • 標準繪製: 選擇原點 O=(0,0,0)。終點 P=(2,1,0)。
  • 在單位晶胞內: 我們通常會考慮從某個頂點出發,終點在晶胞邊界上的向量。
  • 最直觀的繪製: 從原點 (0,0,0) 出發,沿 x 軸走到 x=a,再沿 y 軸走到 y=a,則到達 (1,1,0)。
  • 對於 [210],我們可以理解為從原點 (0,0,0) 出發,沿 x 軸移動 2 倍晶胞邊長,沿 y 軸移動 1 倍晶胞邊長。
  • 繪製 [210]: 選擇原點 (0,0,0)。終點為 (2a,a,0)(2a, a, 0)。
  • 簡化: 為了在一個單位晶胞內表示,我們可以將此向量縮放。例如,終點可以設為 (1,1/2,0)(1, 1/2, 0)。
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第 5 題15 分

Compare the bonding types and electric conductivity of polymer, semiconductor and metal.

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本題要求比較聚合物 (polymer)、半導體 (semiconductor) 和金屬 (metal) 三種材料的鍵結類型 (bonding types) 和電導率 (electric conductivity)。

1. 鍵結類型 (Bonding Types)

  • 金屬 (Metal):

    • 鍵結類型: 金屬鍵 (Metallic bonding)。
    • 說明: 在金屬中,價電子脫離原子核的束縛,形成一個「電子海」(electron sea),這些自由移動的電子將帶正電的金屬離子籠連結在一起。這種鍵結是離域的,使得金屬具有良好的延展性和導電性。
  • 半導體 (Semiconductor):

    • 鍵結類型: 共價鍵 (Covalent bonding),有時也帶有部分離子鍵的性質(如 III-V 族化合物半導體)。
    • 說明: 在典型的共價鍵半導體(如矽 Si、鍺 Ge)中,原子之間通過共享價電子形成穩定的共價鍵。每個原子都貢獻其價電子,形成飽和的、定域的鍵結。這使得純半導體在室溫下導電性較差。通過摻雜可以引入載流子,改變其導電性。
  • 聚合物 (Polymer):

    • 鍵結類型: 主要為共價鍵 (Covalent bonding),分子間有范德華力 (Van der Waals forces) 或氫鍵 (Hydrogen bonds)。
    • 說明: 聚合物是由重複的單元(單體)通過共價鍵連接形成長鏈分子。這些長鏈分子之間則通過較弱的范德華力或氫鍵相互作用。共價鍵是定域的,分子間作用力也是定域的。

2. 電導率 (Electric Conductivity)

  • 金屬 (Metal):

    • 電導率: 非常高 (σ≈106−108\sigma \approx 10^6 - 10^8 S/m)。
    • 說明: 由於存在大量自由移動的離域價電子(電子海),金屬對電子流的阻力很小,因此具有很高的電導率。電導率隨溫度升高而降低,因為熱振動會阻礙電子的移動。
  • 半導體 (Semiconductor):

    • 電導率: 中等,介於金屬和絕緣體之間 (σ≈10−6−104\sigma \approx 10^{-6} - 10^4 S/m)。
    • 說明: 純半導體(本質半導體)的導電性主要來自熱激發產生的電子-空穴對。其載流子濃度較低。
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第 6 題10 分

Calculate the planar atomic density in atoms per square millimeter for the (0001) plane in HCP beryllium, which has a lattice constant a=0.22856 nm and a c constant of 0.35832 nm.

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核心觀念

本題考查晶體的平面原子密度(planar atomic density, PAD):

平面原子密度=該晶面單位面積內的原子數晶面面積\text{平面原子密度} = \frac{\text{該晶面單位面積內的原子數}}{\text{晶面面積}}

對 HCP 結構而言,(0001)(0001) 面就是與六方晶體基底平行的基面,也是原子最密堆積的平面。其平面上的原子排列形成二維六方晶格。

HCP 基面二維原胞可取為兩條長度皆為 aa、夾角為 60∘60^\circ 的晶格向量,因此:

A2D=a2sin⁡60∘=32a2A_{\text{2D}}=a^2\sin60^\circ =\frac{\sqrt{3}}{2}a^2

一個二維原胞內恰含 11 個原子,所以:

PAD(0001)=1(3/2)a2=23a2\text{PAD}_{(0001)} = \frac{1}{(\sqrt{3}/2)a^2} = \frac{2}{\sqrt{3}a^2}

題目給出的 cc 常數描述 HCP 晶胞在垂直基面方向的週期,但(0001)(0001)面的平面原子密度只與面內晶格常數 aa 有關,因此不需使用 cc。

解題方法

已知:

a=0.22856 nma=0.22856\ \text{nm}

先計算二維原胞面積:

A2D=32(0.22856)2 nm2A_{\text{2D}} = \frac{\sqrt{3}}{2}(0.22856)^2 \ \text{nm}^2 A2D≈0.0452409 nm2A_{\text{2D}} \approx 0.0452409\ \text{nm}^2

因此,以 nm−2\text{nm}^{-2} 表示的平面原子密度為:

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第 7 題10 分

Calculate the electrical resistivity of intrinsic silicon at 300 K. For Si at 300 K, the intrinsic carrier concentration n₁=1.510¹⁶ carriers/m³, the electronic charge q=1.6010⁻¹⁹ C, electron mobility = 0.135 m²/V-s, and hole mobility=0.048 m²/V-s.

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本題要求計算本質半導體 (intrinsic semiconductor) 矽 (Si) 在 300 K 時的電阻率 (electrical resistivity)。

已知條件:

  • 材料:矽 (Si),本質半導體
  • 溫度:T=300T = 300 K
  • 本質載流子濃度:ni=1.5×1016n_i = 1.5 \times 10^{16} m⁻³
  • 電子電荷:q=1.60×10−19q = 1.60 \times 10^{-19} C
  • 電子遷移率:μn=0.135\mu_n = 0.135 m²/V-s
  • 空穴遷移率:μp=0.048\mu_p = 0.048 m²/V-s

核心觀念:
電阻率 ρ\rho 與電導率 σ\sigma 互為倒數,即 ρ=1σ\rho = \frac{1}{\sigma}。
電導率 σ\sigma 由材料中的載流子濃度和它們的遷移率決定。對於本質半導體,電子和空穴都參與導電。
電導率的公式為:σ=nqμn+pqμp\sigma = nq\mu_n + p q\mu_p
其中:

  • nn 是電子濃度
  • pp 是空穴濃度
  • qq 是基本電荷
  • μn\mu_n 是電子遷移率
  • μp\mu_p 是空穴遷移率

對於本質半導體,電子濃度 nn 等於空穴濃度 pp,且都等於本質載流子濃度 nin_i。
所以,σ=niqμn+niqμp=niq(μn+μp)\sigma = n_i q\mu_n + n_i q\mu_p = n_i q (\mu_n + \mu_p)。

計算步驟:

  1. 計算電導率 σ\sigma:
    σ=niq(μn+μp)\sigma = n_i q (\mu_n + \mu_p)
    σ=(1.5×1016 m−3)×(1.60×10−19 C)×(0.135 m2/V⋅s+0.048 m2/V⋅s)\sigma = (1.5 \times 10^{16} \text{ m}^{-3}) \times (1.60 \times 10^{-19} \text{ C}) \times (0.135 \text{ m}^2/\text{V}\cdot\text{s} + 0.048 \text{ m}^2/\text{V}\cdot\text{s})
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第 8 題15 分

If 500g of a 40 wt% Ag-60 wt% Cu alloy is slowly cooled from 1000°C to just below 780°C.
(a) How many grams of liquid and proeutectic alpha are present at 850 °C?
(b) How many grams of liquid and proeutectic alpha are present at temperature just above 780°C?
(c) How many grams of alpha are present in the eutectic structure at temperature just below 780°C?
🖼️【此處有附圖,請對照原卷】

🖼️ 本題含圖表,以下為原卷對應頁面:
原卷第 2 頁

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核心觀念

本題考察二元共晶相圖的:

  • 等溫連線(tie line)
  • 槓桿定則(lever rule)
  • 初析相(proeutectic phase)與共晶組織的質量計算

合金總質量為 500 g500\text{ g},成分為:

C0=40 wt% AgC_0=40\ \text{wt\% Ag}

由圖讀得共晶反應資料:

TE=780∘C,CE=71.9 wt% AgT_E=780^\circ\text{C},\qquad C_E=71.9\ \text{wt\% Ag}

在共晶溫度剛低於 780∘C780^\circ\text{C} 時:

CαE=7.9 wt% Ag,CβE=91.2 wt% AgC_{\alpha E}=7.9\ \text{wt\% Ag},\qquad C_{\beta E}=91.2\ \text{wt\% Ag}

槓桿定則為:

Wα=CL−C0CL−CαW_\alpha=\frac{C_L-C_0}{C_L-C_\alpha} WL=C0−CαCL−CαW_L=\frac{C_0-C_\alpha}{C_L-C_\alpha}

其中 WαW_\alpha 與 WLW_L 分別代表 α\alpha 相與液相的質量分率。


(a) 850∘C850^\circ\text{C} 時液相與初析 α\alpha 相的質量

由 850∘C850^\circ\text{C} 的等溫連線讀圖:

Cα≈5 wt% AgC_\alpha\approx 5\ \text{wt\% Ag} CL≈55 wt% AgC_L\approx 55\ \text{wt\% Ag}

此時合金位於 α+L\alpha+L 兩相區,因此:

初析 α\alpha 相

Wα=CL−C0CL−Cα=55−4055−5=1550=0.30W_\alpha = \frac{C_L-C_0}{C_L-C_\alpha} = \frac{55-40}{55-5} = \frac{15}{50} = 0.30 mα=0.30(500)=150 gm_\alpha=0.30(500)=150\text{ g}

液相

WL=C0−CαCL−Cα=40−555−5=3550=0.70W_L = \frac{C_0-C_\alpha}{C_L-C_\alpha} = \frac{40-5}{55-5} = \frac{35}{50} = 0.70 mL=0.70(500)=350 gm_L=0.70(500)=350\text{ g}

(b) 剛高於 780∘C780^\circ\text{C} 時液相與初析 α\alpha 相的質量

在共晶溫度剛高於 780∘C780^\circ\text{C} 時,兩相成分為:

Cα=7.9 wt% AgC_\alpha=7.9\ \text{wt\% Ag} CL=71.9 wt% AgC_L=71.9\ \text{wt\% Ag}

初析 α\alpha 相

Wα,初析=71.9−4071.9−7.9=31.964=0.4984W_{\alpha,\text{初析}} = \frac{71.9-40}{71.9-7.9} = \frac{31.9}{64} = 0.4984
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其他考古題