115 年 國立中山大學電機工程學系碩士班甲組《半導體概論》
第 1 題10 分
Consider a semiconductor sample at in which donor concentration and acceptor concentration . Assume that . Calculate the thermal-equilibrium electron and hole concentrations.
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本題考查半導體在熱平衡狀態下,給定摻雜濃度時,如何計算電洞與電子的濃度。
在熱平衡狀態下,對於一個非簡併的半導體,我們有以下幾個基本關係式:
- 電中性條件:,其中 為電子濃度, 為電洞濃度, 為已游化的受質原子濃度, 為已游化的給質原子濃度。在熱平衡時,所有摻雜原子都已游化,所以 且 。
- 質量作用定律:
給定條件:
(給質雜質濃度)
(受質雜質濃度)
(本質載子濃度)
首先,判斷半導體的類型。由於 ,此半導體為 n 型。
應用電中性條件:
由質量作用定律,我們有 。將此代入電中性條件的差值式中:
將 代入:
所以,二次方程式為:
使用二次方程式的求根公式:
其中 , ,
第 2 題5 分
Assume that the donor concentration in an n-type semiconductor at is given by , where is given in cm and ranges between . Determine the induced electric field in a semiconductor in thermal equilibrium at .
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核心觀念
本題考查「非均勻摻雜半導體在熱平衡下的內建電場」。由於施體濃度隨位置改變,電子會因濃度梯度產生擴散電流;熱平衡時,電場造成的漂移電流必須抵消擴散電流,因此總電子電流為零。
電子電流密度為
熱平衡時 ,因此
利用 Einstein 關係式
可得
解題方法
假設施體完全游離,且半導體為非簡併、熱平衡狀態,則多數載子電子濃度近似等於施體濃度:
題目給定
因此
對 微分:
代入內建電場公式:
在 時,
第 3 題5 分
Consider n-type GaAs doped at . Assume that electron-hole pairs have been uniformly created per at , but assume that generation rate for , and assume the minority carrier hole lifetime is . Determine the time at which the minority carrier hole concentration reaches 5% of its initial value.
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本題考查非平衡載子壽命問題,特別是少數載子濃度在產生後,由於複合作用而隨時間衰減的行為。
在非平衡狀態下,少數載子的濃度變化率由產生率、複合率和擴散率決定。在此題中,我們忽略擴散效應,只考慮產生和複合。
少數載子(在此為電洞,因為是 n 型半導體)的濃度變化可以用以下微分方程式描述:
其中 是電洞濃度, 是電洞的產生率, 是電洞的複合率。
題目給定:
- 半導體是 n 型 GaAs,摻雜濃度 。
- 在 時,均勻產生了 的電子-電洞對。這表示初始的非平衡電洞濃度 。
- 對於 ,產生率 。
- 少數載子(電洞)的壽命 。
在 n 型半導體中,熱平衡時的電洞濃度為 。由於 ,且 GaAs 的本質載子濃度 在室溫下約為 ,所以 。
因此,。
在 時,總電洞濃度 。
由於 ,我們可以近似認為 。
複合率 通常與載子濃度有關。對於輻射複合或 SRH 複合,在非平衡狀態下,複合率與非平衡載子濃度 成正比:。
這裡的 是少數載子(電洞)的壽命。
因此,少數載子濃度的變化率方程式為:
由於 對於 ,方程式簡化為:
第 4 題10 分
Consider silicon at doped at concentrations of and . Assume that in the excess carrier recombination rate equation and assume parameter values of . Calculate the recombination rate of excess carriers if .
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核心觀念
本題考查矽中少數載子因電子—電洞對產生與復合所造成的 SRH(Shockley–Read–Hall)復合率。
復合率公式為
其中:
- 、:受激發後的電子與電洞濃度
- :本質載子濃度
- 、:載子生命期參數
- 、:與陷阱能階有關的參數
由於產生的是電子—電洞對,且題目給定
因此復合率 即為過剩載子的復合速率,單位為 。
解題方法
1. 求平衡載子濃度
矽為 型半導體,且
假設雜質完全游離,且 ,平衡電子濃度近似為
由熱平衡關係
得到
2. 求受激發後的載子濃度
3. 代入復合率公式
題目給定
以及
分子為