115 年 國立中山大學電機工程學系碩士班甲組《半導體概論》

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第 1 題10 分

Consider a semiconductor sample at T=300KT = 300 K in which donor concentration Nd=2.5×1014 cm−3N_d = 2.5 \times 10^{14} \text{ cm}^{-3} and acceptor concentration Na=1.5×1014 cm−3N_a = 1.5 \times 10^{14} \text{ cm}^{-3}. Assume that ni=5×1013 cm−3n_i = 5 \times 10^{13} \text{ cm}^{-3}. Calculate the thermal-equilibrium electron and hole concentrations.

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本題考查半導體在熱平衡狀態下,給定摻雜濃度時,如何計算電洞與電子的濃度。

在熱平衡狀態下,對於一個非簡併的半導體,我們有以下幾個基本關係式:

  1. 電中性條件:n+Na−=p+Nd+n + N_a^- = p + N_d^+ ,其中 nn 為電子濃度,pp 為電洞濃度,Na−N_a^- 為已游化的受質原子濃度,Nd+N_d^+ 為已游化的給質原子濃度。在熱平衡時,所有摻雜原子都已游化,所以 Na−=NaN_a^- = N_a 且 Nd+=NdN_d^+ = N_d。
  2. 質量作用定律:np=ni2np = n_i^2

給定條件:
T=300 KT = 300 \text{ K}
Nd=2.5×1014 cm−3N_d = 2.5 \times 10^{14} \text{ cm}^{-3} (給質雜質濃度)
Na=1.5×1014 cm−3N_a = 1.5 \times 10^{14} \text{ cm}^{-3} (受質雜質濃度)
ni=5×1013 cm−3n_i = 5 \times 10^{13} \text{ cm}^{-3} (本質載子濃度)

首先,判斷半導體的類型。由於 Nd>NaN_d > N_a,此半導體為 n 型。

應用電中性條件:
n+Na=p+Ndn + N_a = p + N_d
n+1.5×1014=p+2.5×1014n + 1.5 \times 10^{14} = p + 2.5 \times 10^{14}
n−p=(2.5−1.5)×1014=1.0×1014 cm−3n - p = (2.5 - 1.5) \times 10^{14} = 1.0 \times 10^{14} \text{ cm}^{-3}

由質量作用定律,我們有 p=ni2np = \frac{n_i^2}{n}。將此代入電中性條件的差值式中:
n−ni2n=1.0×1014n - \frac{n_i^2}{n} = 1.0 \times 10^{14}
n2−ni2=(1.0×1014)nn^2 - n_i^2 = (1.0 \times 10^{14}) n
n2−(1.0×1014)n−ni2=0n^2 - (1.0 \times 10^{14}) n - n_i^2 = 0

將 ni=5×1013 cm−3n_i = 5 \times 10^{13} \text{ cm}^{-3} 代入:
ni2=(5×1013)2=25×1026=2.5×1027 cm−6n_i^2 = (5 \times 10^{13})^2 = 25 \times 10^{26} = 2.5 \times 10^{27} \text{ cm}^{-6}

所以,二次方程式為:
n2−(1.0×1014)n−2.5×1027=0n^2 - (1.0 \times 10^{14}) n - 2.5 \times 10^{27} = 0

使用二次方程式的求根公式:n=−b±b2−4ac2an = \frac{-b \pm \sqrt{b^2 - 4ac}}{2a}
其中 a=1a=1, b=−1.0×1014b = -1.0 \times 10^{14}, c=−2.5×1027c = -2.5 \times 10^{27}

n=1.0×1014±(−1.0×1014)2−4(1)(−2.5×1027)2(1)n = \frac{1.0 \times 10^{14} \pm \sqrt{(-1.0 \times 10^{14})^2 - 4(1)(-2.5 \times 10^{27})}}{2(1)}
n=1.0×1014±1.0×1028+10.0×10272n = \frac{1.0 \times 10^{14} \pm \sqrt{1.0 \times 10^{28} + 10.0 \times 10^{27}}}{2}
n=1.0×1014±1.0×1028+1.0×10282n = \frac{1.0 \times 10^{14} \pm \sqrt{1.0 \times 10^{28} + 1.0 \times 10^{28}}}{2}
n=1.0×1014±2.0×10282n = \frac{1.0 \times 10^{14} \pm \sqrt{2.0 \times 10^{28}}}{2}

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第 2 題5 分

Assume that the donor concentration in an n-type semiconductor at T=300KT = 300 K is given by Nd(x)=1016e−1019x cm−3N_d(x) = 10^{16} e^{-10^{19}x} \text{ cm}^{-3}, where xx is given in cm and ranges between 0<x<1 µm0 < x < 1 \text{ µm}. Determine the induced electric field in a semiconductor in thermal equilibrium at x=1 µmx = 1 \text{ µm}.

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核心觀念

本題考查「非均勻摻雜半導體在熱平衡下的內建電場」。由於施體濃度隨位置改變,電子會因濃度梯度產生擴散電流;熱平衡時,電場造成的漂移電流必須抵消擴散電流,因此總電子電流為零。

電子電流密度為

Jn=qμnnE+qDndndxJ_n=q\mu_n nE+qD_n\frac{dn}{dx}

熱平衡時 Jn=0J_n=0,因此

E=−Dnμn1ndndxE=-\frac{D_n}{\mu_n}\frac{1}{n}\frac{dn}{dx}

利用 Einstein 關係式

Dnμn=kTq\frac{D_n}{\mu_n}=\frac{kT}{q}

可得

E=−kTq1ndndx=−kTqd(ln⁡n)dxE=-\frac{kT}{q}\frac{1}{n}\frac{dn}{dx} =-\frac{kT}{q}\frac{d(\ln n)}{dx}

解題方法

假設施體完全游離,且半導體為非簡併、熱平衡狀態,則多數載子電子濃度近似等於施體濃度:

n(x)≈Nd(x)n(x)\approx N_d(x)

題目給定

Nd(x)=1016e−1019x cm−3N_d(x)=10^{16}e^{-10^{19}x}\ \text{cm}^{-3}

因此

ln⁡n(x)=ln⁡(1016)−1019x\ln n(x)=\ln(10^{16})-10^{19}x

對 xx 微分:

d(ln⁡n)dx=−1019 cm−1\frac{d(\ln n)}{dx}=-10^{19}\ \text{cm}^{-1}

代入內建電場公式:

E=−kTq(−1019)E=-\frac{kT}{q}\left(-10^{19}\right)

在 T=300 KT=300\ \text{K} 時,

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第 3 題5 分

Consider n-type GaAs doped at Nd=1016 cm−3N_d = 10^{16} \text{ cm}^{-3}. Assume that 101410^{14} electron-hole pairs have been uniformly created per cm3\text{cm}^3 at t=0t = 0, but assume that generation rate g′=0g' = 0 for t>0t > 0, and assume the minority carrier hole lifetime is τp0=50 ns\tau_{p0} = 50 \text{ ns}. Determine the time at which the minority carrier hole concentration reaches 5% of its initial value.

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本題考查非平衡載子壽命問題,特別是少數載子濃度在產生後,由於複合作用而隨時間衰減的行為。

在非平衡狀態下,少數載子的濃度變化率由產生率、複合率和擴散率決定。在此題中,我們忽略擴散效應,只考慮產生和複合。

少數載子(在此為電洞,因為是 n 型半導體)的濃度變化可以用以下微分方程式描述:
dpdt=gp′−Rp\frac{dp}{dt} = g'_p - R_p
其中 pp 是電洞濃度,gp′g'_p 是電洞的產生率,RpR_p 是電洞的複合率。

題目給定:

  1. 半導體是 n 型 GaAs,摻雜濃度 Nd=1016 cm−3N_d = 10^{16} \text{ cm}^{-3}。
  2. 在 t=0t = 0 時,均勻產生了 1014 cm−310^{14} \text{ cm}^{-3} 的電子-電洞對。這表示初始的非平衡電洞濃度 Δp(0)=1014 cm−3\Delta p(0) = 10^{14} \text{ cm}^{-3}。
  3. 對於 t>0t > 0,產生率 g′=0g' = 0。
  4. 少數載子(電洞)的壽命 τp0=50 ns\tau_{p0} = 50 \text{ ns}。

在 n 型半導體中,熱平衡時的電洞濃度為 p0p_0。由於 Nd=1016 cm−3N_d = 10^{16} \text{ cm}^{-3},且 GaAs 的本質載子濃度 nin_i 在室溫下約為 1.8×106 cm−31.8 \times 10^6 \text{ cm}^{-3},所以 Nd≫niN_d \gg n_i。
因此,p0=ni2Nd≪Ndp_0 = \frac{n_i^2}{N_d} \ll N_d。
在 t=0t=0 時,總電洞濃度 p(0)=p0+Δp(0)=p0+1014 cm−3p(0) = p_0 + \Delta p(0) = p_0 + 10^{14} \text{ cm}^{-3}。
由於 p0≪1014 cm−3p_0 \ll 10^{14} \text{ cm}^{-3},我們可以近似認為 p(0)≈1014 cm−3p(0) \approx 10^{14} \text{ cm}^{-3}。

複合率 RpR_p 通常與載子濃度有關。對於輻射複合或 SRH 複合,在非平衡狀態下,複合率與非平衡載子濃度 Δp\Delta p 成正比:Rp=Δpτp0R_p = \frac{\Delta p}{\tau_{p0}}。
這裡的 τp0\tau_{p0} 是少數載子(電洞)的壽命。

因此,少數載子濃度的變化率方程式為:
d(Δp)dt=gp′−Δpτp0\frac{d(\Delta p)}{dt} = g'_p - \frac{\Delta p}{\tau_{p0}}
由於 gp′=0g'_p = 0 對於 t>0t > 0,方程式簡化為:

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第 4 題10 分

Consider silicon at T=300KT = 300 K doped at concentrations of Nd=1016 cm−3N_d = 10^{16} \text{ cm}^{-3} and Na=0N_a = 0. Assume that n′=p′=ni=1.5×1010 cm−3n' = p' = n_i = 1.5 \times 10^{10} \text{ cm}^{-3} in the excess carrier recombination rate equation and assume parameter values of τn0=τp0=5×10−7 s\tau_{n0} = \tau_{p0} = 5 \times 10^{-7} \text{ s}. Calculate the recombination rate of excess carriers if δn=δp=1014 cm−3\delta n = \delta p = 10^{14} \text{ cm}^{-3}.

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核心觀念

本題考查矽中少數載子因電子—電洞對產生與復合所造成的 SRH(Shockley–Read–Hall)復合率。

復合率公式為

R=np−ni2τp0(n+n′)+τn0(p+p′)R=\frac{np-n_i^2}{\tau_{p0}(n+n')+\tau_{n0}(p+p')}

其中:

  • nn、pp:受激發後的電子與電洞濃度
  • nin_i:本質載子濃度
  • τn0\tau_{n0}、τp0\tau_{p0}:載子生命期參數
  • n′n'、p′p':與陷阱能階有關的參數

由於產生的是電子—電洞對,且題目給定

δn=δp=1014 cm−3\delta n=\delta p=10^{14}\ \text{cm}^{-3}

因此復合率 RR 即為過剩載子的復合速率,單位為 cm−3s−1\text{cm}^{-3}\text{s}^{-1}。

解題方法

1. 求平衡載子濃度

矽為 nn 型半導體,且

Nd=1016 cm−3,Na=0N_d=10^{16}\ \text{cm}^{-3},\qquad N_a=0

假設雜質完全游離,且 Nd≫niN_d\gg n_i,平衡電子濃度近似為

n0≃Nd=1016 cm−3n_0\simeq N_d=10^{16}\ \text{cm}^{-3}

由熱平衡關係

n0p0=ni2n_0p_0=n_i^2

得到

p0=ni2n0=(1.5×1010)21016=2.25×104 cm−3p_0=\frac{n_i^2}{n_0} =\frac{(1.5\times10^{10})^2}{10^{16}} =2.25\times10^4\ \text{cm}^{-3}

2. 求受激發後的載子濃度

n=n0+δn=1016+1014=1.01×1016 cm−3n=n_0+\delta n =10^{16}+10^{14} =1.01\times10^{16}\ \text{cm}^{-3} p=p0+δp=2.25×104+1014≈1.000000225×1014 cm−3p=p_0+\delta p =2.25\times10^4+10^{14} \approx 1.000000225\times10^{14}\ \text{cm}^{-3}

3. 代入復合率公式

題目給定

n′=p′=ni=1.5×1010 cm−3n'=p'=n_i=1.5\times10^{10}\ \text{cm}^{-3}

以及

τn0=τp0=5×10−7 s\tau_{n0}=\tau_{p0}=5\times10^{-7}\ \text{s}

分子為

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